| 图 片 |
设备名称 |
制造商 |
型号 |
年份 |
详细配置 |
状 态 |
 |
缺陷检测设备 |
KLA |
EDR-7380 |
- |
12"设备完整不缺件,300mm在线热机; |
国外
|
 |
测量设备 |
KLA |
STARLIGHT301(300SL) |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
测量设备 |
KLA |
SCD-XT |
- |
12"设备完整不缺件,有3台现货; |
国外
|
|
测量设备 |
KLA |
Archer A300 AIM |
2010 |
设备完整不缺件,日本仓库中; |
国外
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2007/2012 |
设备完整不缺件,有2台现货,安装调试+质保6个月; |
国内
|
|
量测设备 |
KLA |
ES31 |
- |
300mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
晶圆表面检测设备 |
KLA |
FLX2908 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
探针台 |
KLA |
AWUS3110 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1250SE |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
缺陷检测系统 |
KLA |
AIT-3 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2139 |
- |
200mm设备完整不缺件,设备状态差; |
国外
|
|
套刻精度测量设备 |
KLA |
Archer 10 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
 |
表面缺陷检测系统 |
KLA |
8520 |
2022 |
6"设备完整不缺件;
电压:208/230+10% VAC,单相 |
国外
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2401 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
 |
缺陷检测 |
KLA |
SF27 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
表面分析仪 |
KLA |
CS20R |
2010 |
设备完整不缺件,安装调试+质保6个月,费用加25万元; |
国内
|
 |
晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2015 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2011 |
设备完整不缺件,在线热机,晶圆片300mm; |
国外
|
 |
表面缺陷检测系统 |
KLA |
8420 |
2020 |
6"设备完整不缺件,20年入厂,设备九成新以上,目前在湖南仓库中, |
国内
|
|
颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
1997 |
2016年翻新,激光器于2020年3月更换,最后一次PM于2023 |
国外
|
 |
台阶仪 |
KLA |
P15 |
2006 |
设备完整不缺件,质保3月加3万元; |
国内
|
 |
方阻测试仪 |
KLA |
RS55 |
2000 |
设备完整不缺件,有2台现货(有台缺件,打包卖+20W); |
国内
|
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国外
|
 |
缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件,安装调试加70W左右,备件成本太高; |
国内
|
 |
缺陷检测设备 |
KLA |
2135 |
1998 |
在线热机,设备完整不缺件,安装调试加10W; |
国内
|
|
表面分析仪 |
KLA |
CS10 R |
- |
- |
国外
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
2007 |
- |
国外
|
 |
芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
2017 |
设备完整不缺件,在线热机在亚洲; |
国外
|
|
表面晶圆检测系统 |
KLA |
8620 |
- |
设备完整不缺件,目前在欧洲; |
国外
|
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
1995 |
设备完整不缺件; |
国外
|
 |
芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
2007 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
2007 |
TBI翻新掩模和晶圆检测,300/200mm x 3个端口,设备在 |
国外
|
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2001 |
设备缺件; |
国内
|
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1280SE |
2001 |
用途：薄膜测量系统
型号：UV1280SE
出厂日期：2001 |
国外
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
已翻新; |
国外
|
 |
薄膜测量系统 |
KLA |
UV1280SE |
2000 |
已翻修完无缺件,可验机保固3个月; |
国内
|
|
侧扫声纳设备 |
KLA |
INS3000 |
1999 |
有2台,月底卖掉.. |
国外
|
 |
薄膜测量系统 |
KLA |
RS-75 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
- |
设备完整不缺件,正运回中国; |
已售出
|
 |
晶圆检测设备 |
KLA |
SFS-6400 |
1994 |
竞标中.. |
国外
|
 |
缺陷测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
1997 |
设备完整不缺件; |
国外
|
 |
颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
2001 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
1992 |
设备完整不缺件,安装调试+质保6个月,费用加25万元; |
国内
|
 |
颗粒检测仪 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
4" |
国外
|
 |
晶圆缺陷检测 |
KLA |
SP3 |
2014 |
在线热机,2月份拆机; |
国外
|
 |
膜厚仪 |
KLA |
OP2600 |
1997 |
设备完整不缺件,已翻新;
Fully refurbished s |
国外
|
 |
膜厚测量设备 |
KLA |
OP5240 |
2000 |
设备完整不缺件,已翻新;
Fully refurbished s |
国外
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国内
|
|
颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
6"设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
晶圆缺陷检测 |
KLA |
Surfscan SP5 |
- |
设备完整不缺件; |
已售出
|
|
膜厚测量仪 |
KLA |
UV-1050 |
- |
6-8"设备完整不缺件; |
国内
|
|
膜厚测量仪 |
KLA |
FT-750 |
- |
6-8"设备完整不缺件,有3台现货; |
国内
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2133 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
|
颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
缺陷测试仪 |
KLA |
Viper 2401 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
缺陷测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
缺陷测试仪 |
KLA |
AIT 1 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
- |
6"设备完整不缺件; |
国内
|
|
膜厚测试仪 |
KLA |
UV-1050 |
- |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
薄膜量测系统 |
KLA |
Aleris 8350 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
薄膜测量系统 |
KLA |
UV1250SE |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
测试仪 |
KLA |
SMI3050(C/W) |
2004 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
膜厚仪 |
KLA |
OP2600 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
晶圆检测设备 |
KLA |
Viper2430 |
2006 |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
芯片缺陷检测系统 |
KLA |
Tencor 8720 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
 |
表面分析仪 |
KLA |
CS10 |
2006 |
设备完整不缺件,现货热机,可安装调试; |
国内
|
|
扫脚机 |
KLA |
CI-T130 |
- |
4 |
国外
|
|
扫脚机 |
KLA |
CI-T830 |
- |
1 |
国外
|
|
工业相机 |
KLA |
IVC-1600 |
- |
2 |
国外
|
|
工业相机 |
KLA |
IVC-2000 |
- |
2 |
国外
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
IVC-4000 |
- |
1 |
国外
|
|
测量设备 |
KLA |
Manual |
- |
1 |
国外
|
|
测量设备 |
KLA |
ICOS6100_7.6 |
- |
1 |
国外
|
|
晶圆翘曲度测量仪 |
KLA |
FLX-5400 |
2015-02-01 |
已打包 |
国外
|
|
颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
1999 |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
上料机构 |
KLA |
SP3 |
2012.3 |
上料机构; |
国外
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
- |
设备完整不缺件,在线热机在江苏; |
国内
|
|
薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1050 |
1996.5 |
200mm As-Is, Where-Is;含软件及硬盘 |
国外
|
|
晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2002.8 |
300mm As-Is, Where-Is;不含硬盘 |
国外
|
|
晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2005.2 |
300mm,Where-Is,不含硬盘; |
国外
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
Equipment Make: KLA-Tencor
Equ |
国外
|
|
热波检测仪 |
KLA |
TP500 |
2002 |
设备完整不缺件,已翻新; |
国外
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2138 |
- |
设备完整不缺件,有4台现货; |
国外
|
|
测试仪 |
KLA |
AS-500 |
- |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
 |
方阻测试仪 |
KLA |
RS75 |
2000 |
设备完整不缺件; |
已售出
|
|
金相显微镜 |
KLA |
INM300 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
单向节流阀 |
KLA |
P-15 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
PHX DF 5.0 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
掩模版检测设备 |
KLA |
Ultrascan-9300 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
光测量系统 |
KLA |
Ultrascan-9000 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
晶圆缺陷检测 |
KLA |
AFS-3220 |
- |
8 As-is |
国外
|
|
晶圆缺陷检测 |
KLA |
SP3 |
- |
设备完整不缺件,含序列号; |
国内
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
晶圆缺陷检测设备 |
KLA |
Acrotec-6020 |
- |
Inspection system/PC/HDD. |
国外
|
 |
晶圆检测设备 |
KLA |
8935-FFC |
2022 |
设备完整不缺件;
全新机420-650万美元(3000-4650 |
已售出
|
|
薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1280SE |
2000 |
Film Thickness Measurement |
国外
|
|
薄膜测厚仪 |
KLA |
F20 |
2021 |
Thickness Measurement |
国外
|
|
晶圆计量与检测设备 |
KLA |
ADE-9500 |
- |
Multifunctional measurement |
国外
|
|
薄膜电阻测量设备 |
KLA |
M-Gage 300 |
2001 |
Al Thickness measurement 8寸 |
国外
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
有2台; |
国外
|
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
2000 |
Kla-tencor One Technology Driveu |
已售出
|
|
表面缺陷检测仪 |
KLA |
CS20R |
- |
设备完整不缺件,现货在浙江;20001938 |
国内
|
|
表面缺陷检测仪 |
KLA |
2132 |
- |
设备完整不缺件,现货在浙江;20001176 |
国内
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
FLX2908 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
8620 |
- |
12"设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
|
晶圆检测设备 |
KLA |
2350 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
|
光掩模版检测仪 |
KLA |
9MD83SR Ⅱ |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20000670 |
国内
|
|
粒子缺陷检测仪 |
KLA |
CSX0 |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20000621 |
国内
|
|
台阶仪 |
KLA |
P10/P11 |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20000419 |
国内
|
|
台阶仪 |
KLA |
P10/P11 |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20001090 |
国内
|
|
台阶仪 |
KLA |
P10/P11 |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20000418 |
国内
|
|
薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1050 |
- |
设备完整不缺件,有4台现货; |
国外
|
|
电子束缺陷检查设备 |
KLA |
5200+ |
- |
设备完整不缺件,无硬盘; |
国内
|
|
薄膜测量 |
KLA |
CS2 |
- |
- |
国内
|
|
量测设备 |
KLA |
5200XP |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
表面缺陷检测系统 |
KLA |
8520 |
2022 |
设备完整不缺件,在欧洲含拆卸+搬迁+装箱,不含运输和CCIC; |
国外
|
 |
表面分析仪 |
KLA |
CS10 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
叠加测量系统 |
KLA |
Archer |
- |
设备完整不缺件;10300187 |
国内
|
|
表面分析仪 |
KLA |
CS20 |
- |
设备完整不缺件;30100053 |
国内
|
|
晶圆弯曲和晶圆应力测量 |
KLA |
FLX-2320 |
- |
设备完整不缺件;30100059 |
国内
|
|
晶圆弯曲和晶圆应力测量 |
KLA |
FLX-2908 |
- |
设备完整不缺件;30100007 |
国内
|
|
平面测量台阶仪 |
KLA |
P-11 |
- |
设备完整不缺件;10300207 |
国内
|
|
测量仪 |
KLA |
P-11 |
- |
设备完整不缺件;10300017 |
国内
|
|
四点探针电阻率测绘仪 |
KLA |
RS35 |
- |
设备完整不缺件;10300208 |
国内
|
|
四点探针电阻率测绘仪 |
KLA |
RS55 |
- |
设备完整不缺件;10300205 |
国内
|
|
晶圆光学自动缺陷检测设备 |
KLA |
SFS-6200 |
- |
设备完整不缺件;30100107 |
国内
|
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
- |
设备完整不缺件;30100083 |
国内
|
 |
热波检测仪 |
KLA |
TP500 |
1997 |
6"8"设备完整不缺件,有2台现货,已翻新好; |
国内
|
|
缺陷检查仪 |
KLA |
AIT Ⅱ-I |
2001 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
缺陷检查设备 |
KLA |
2133 |
2011 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
缺陷检查仪 |
KLA |
CRS1010 |
1995/1996 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
缺陷检查仪 |
KLA |
AIT-8010 |
1998 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
1995*2 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7600 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7600M |
1994/1995 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
方阻测试仪 |
KLA |
RS55 |
2000 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
已售出
|
|
阻值测试仪 |
KLA |
VP10E |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
阻值测试仪 |
KLA |
VP10 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
阻值测试仪 |
KLA |
Mgage300 |
1993 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
缺陷数据分析处理仪 |
KLA |
2552 |
- |
As-is |
国外
|
|
薄膜量测 |
KLA |
FX200 |
2008 |
设备完整不缺件,在新加坡; |
国外
|
|
晶圆检测设备 |
KLA |
Viper2435 |
2006 |
设备完整不缺件; |
国外
|
|
晶圆检测设备 |
KLA |
Viper-2438 |
2008 |
- |
国外
|
|
薄膜量测 |
KLA |
FX200 |
2006 |
[Power-on] 2port(TDK), Yaskawa(Al |
国外
|
|
晶圆载台控制器 |
KLA |
CRS1010 |
1998 |
Microscope |
国外
|
|
薄膜测量系统 |
KLA |
Polylite 88 |
- |
- |
国外
|
|
晶圆检查系统 |
KLA |
ES31 |
2004 |
E-beam Inspection / SEMs in Micro |
国外
|
|
缺陷检测设备 |
KLA |
DP2 |
2012 |
DP2 Data Prep Station |
国外
|
 |
晶圆检测设备 |
KLA |
8920i |
2022 |
设备完整不缺件;
全新机280-400万美元(2000-2860 |
已售出
|
|
晶圆检测设备 |
KLA |
8935i |
2022 |
设备完整不缺件;
全新机350-550万美元(2500-3930 |
已售出
|
 |
缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
探针式表面检测仪 |
KLA |
P170 |
2022 |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
表面轮廓仪 |
KLA |
NANOMAPPER |
2006 |
[As-is] 2x Open Foup type, Kensin |
国外
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表面轮廓测量系统 |
KLA |
HRP-340 |
2004 |
2port(Asyst ISO port), stage lock |
国外
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电子束缺陷再检测 |
KLA |
EDR-5210 |
2010 |
2x Load port( Brooks, Brooks Robo |
国外
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晶圆检测系统 |
KLA |
Puma-9130 |
2005 |
[As-is] 2ea*Loadport(Asyst), PRI |
已售出
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晶圆检测系统 |
KLA |
Puma-9000 |
2005 |
[As-is] Handler missing, Dell pow |
国外
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晶圆检测机台 |
KLA |
WI-2280 |
- |
- |
国外
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晶圆检测设备 |
KLA |
AIT UV |
2003 |
- |
国外
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表面分析仪 |
KLA |
CS10V |
2012 |
设备完整不缺件,单激光紫光405nm; |
国外
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晶片制程缺陷检测机 |
KLA |
2110 |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20002554 |
国内
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晶片制程缺陷检测机 |
KLA |
2110 |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20004104 |
国内
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缺陷检测机 |
KLA |
CRS-1010S |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20004079 |
国内
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缺陷检测机 |
KLA |
CRS-1010S |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20004078 |
国内
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缺陷检测机 |
KLA |
CRS-1010S |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20004056 |
国内
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缺陷检测机 |
KLA |
CRS-1010S |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20002463 |
国内
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膜厚测试仪 |
KLA |
ALPHA Step 200 |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;40000016 |
国内
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光学测量设备 |
KLA |
Archer 300+AIM |
2013 |
设备完整不缺件; |
国外
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薄膜测厚仪 |
KLA |
F20 |
2023 |
设备完整不缺件,国内在线热机; |
国内
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轮廓仪 |
KLA |
HRP240 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
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散射仪 |
KLA |
SpectraCD 200 |
2004 |
8"设备完整不缺件200mm; |
国外
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缺陷检测设备 |
KLA |
2139 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
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轮廓仪 |
KLA |
P-10 |
1999 |
设备完整不缺件,国内在线热机; |
国内
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套刻测量系统 |
KLA |
Archer 300 |
2011 |
12"设备完整不缺件300mm; |
国外
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表面缺陷检测系统 |
KLA |
8520 |
2020 |
6"设备完整不缺件; |
已售出
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晶圆缺陷检测仪 |
KLA |
AIT |
- |
设备完整不缺件;10300074 |
国内
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光谱椭偏仪 |
KLA |
SPECTRAFX 100 |
2006 |
设备完整不缺件; |
国外
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晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,国内在线热机; |
国内
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晶圆检测系统 |
KLA |
Aleris CX |
2007 |
[As-is] 2*loadport(TDK TAS300), Y |
国外
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晶圆检测系统 |
KLA |
Surfscan 2.1 |
- |
- |
国外
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检测设备 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
- |
- |
国外
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尺寸量测设备 |
KLA |
MPV-CD |
- |
- |
国外
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颗粒测试仪设备 |
KLA |
SFS7700 |
- |
- |
国外
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表面轮廓仪 |
KLA |
Ergolux |
- |
- |
国外
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显微镜 |
KLA |
INM100+INS10 |
- |
- |
国外
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检测设备 |
KLA |
CI-T53P |
- |
设备完整不缺件; |
国外
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光学检测系统 |
KLA |
ICOS T830 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
已售出
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表面分析仪 |
KLA |
CS20 |
2011 |
4-8"设备完整不缺件;
卡盘尺寸：3.7"
光学头组件：
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国外
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激光跟踪仪 |
KLA |
AT500 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
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