| 龙玺精密-为您提供AMAT NanoSEM 3D Metrology扫描电子显微镜设备买卖+翻新全套解决方案
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| 编 号：1322 (发布时间:2021.10.1) |
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| 名 称：AMAT NanoSEM 3D Metrology扫描电子显微镜 |
| 厂 商：AMAT |
| 型 号：NanoSEM 3D |
| 年 份：2002 |
| 状 态：国外 |
NanoSEM 3DMULTIPLE UNITS AVAILABLE. PLEASE INQUIRE.
SEM - Critical Dimension (CD) Measurement
Currently configured for 300mm wafers
CE Marked
Install Type: Stand Alone
Cassette Interface:
(3) 300mm FOUP
Roll-Around Ergo-Station w/Touch-Screen
Status Lamp |
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| 龙玺精密-为您提供二手AMAT NanoSEM 3D Metrology扫描电子显微镜买卖+翻新全套解决方案，国内半导体工艺设备非标定制。龙先生18868521984(微)
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