| ID |
设备名称 |
制造商 |
型号 |
年份 |
详细配置 |
状 态 |
| 4647 |
KLA EDR-7380缺陷检测设备 |
KLA |
EDR-7380 |
- |
12"设备完整不缺件,300mm在线热机; |
国外
|
| 4608 |
KLA STARLIGHT301(300SL)测量设备 |
KLA |
STARLIGHT301(300SL) |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 4607 |
KLA SP1-TBI测量设备 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 4606 |
KLA SCD-XT测量设备 |
KLA |
SCD-XT |
- |
12"设备完整不缺件,有3台现货; |
国外
|
| 4605 |
KLA Archer A300 AIM测量设备 |
KLA |
Archer A300 AIM |
2010 |
设备完整不缺件,日本仓库中; |
国外
|
| 4569 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
| 4563 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2007/2012 |
设备完整不缺件,有2台现货,安装调试+质保6 |
国内
|
| 4559 |
KLA ES31量测设备 |
KLA |
ES31 |
- |
300mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4524 |
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4523 |
KLA FLX2908晶圆表面检测设备 |
KLA |
FLX2908 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4522 |
KLA SF4500晶圆表面检测设备 |
KLA |
SF4500 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4512 |
KLA AWUS3110晶圆探针台 |
KLA |
AWUS3110 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4499 |
KLA UV1250SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV1250SE |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4433 |
KLA AIT-3缺陷检测系统 |
KLA |
AIT-3 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4432 |
KLA 2139缺陷检测设备 |
KLA |
2139 |
- |
200mm设备完整不缺件,设备状态差; |
国外
|
| 4386 |
KLA ARCHER 10套刻精度测量设备 |
KLA |
ARCHER 10 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4346 |
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4243 |
KLA Candela 8520表面缺陷检测系统 |
TEL |
TRIAS |
2022 |
6"设备完整不缺件,3线/230伏/20安培 |
国外
|
| 4213 |
KLA 2401缺陷检测设备 |
KLA |
2401 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 4187 |
KLA SF27缺陷检测 |
KLA |
SF27 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 4183 |
KLA candela CS20表面分析仪 |
KLA |
CS20 |
2010 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 4170 |
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2015 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 4157 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2011 |
设备完整不缺件,在线热机,晶圆片300mm; |
国外
|
| 4152 |
KLA Candela 8420表面缺陷检测系统 |
KLA |
Candela 8420 |
2020 |
6"设备完整不缺件,20年入厂,设备九成新以 |
国内
|
| 4142 |
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
1997 |
2016年翻新,激光器于2020年3月更换, |
国外
|
| 3973 |
KLA P15台阶仪 |
KLA |
P15 |
- |
设备完整不缺件,质保3月加3万元; |
国内
|
| 3972 |
KLA RS55方阻测试仪 |
KLA |
RS55 |
2000 |
设备完整不缺件,有2台现货(有台缺件,打包卖 |
国内
|
| 3971 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国外
|
| 3970 |
KLA 2132缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件,安装调试加70W左右,备件成 |
国内
|
| 3969 |
KLA 2135缺陷检测设备 |
KLA |
2135 |
1998 |
在线热机,设备完整不缺件,安装调试加10W; |
国内
|
| 3892 |
KLA Tencor CS10 R表面分析仪 |
KLA |
CS10 R |
- |
- |
国外
|
| 3891 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
2007 |
- |
国外
|
| 3890 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
Tencor-8720 |
2017 |
设备完整不缺件,在线热机在亚洲; |
国外
|
| 3885 |
KLA Tencor 8620晶圆检测系统 |
KLA |
8620 |
- |
- |
国外
|
| 3883 |
KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
1995 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 3854 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
Tencor-8720 |
2017 |
美国在线热机,用于4英寸和6英寸; |
国外
|
| 3844 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
2007 |
TBI翻新掩模和晶圆检测,300/200mm |
国外
|
| 3843 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA科磊 |
SP2 |
2001 |
设备缺件; |
国内
|
| 3829 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 3825 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV1280SE |
2001 |
用途：薄膜测量系统
型号：UV1280SE |
国外
|
| 3823 |
KLA Surfscan SP1 TBI颗粒测量仪 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
- |
已翻新; |
国外
|
| 3805 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV1280SE |
2000 |
已翻修完无缺件,可验机保固3个月; |
国内
|
| 3801 |
KLA Leica INS3000侧扫声纳 |
KLA |
INS3000 |
1999 |
有2台,月底卖掉.. |
国外
|
| 3800 |
KLA Tencor RS-75薄膜测量系统 |
KLA科磊 |
RS-75 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 3797 |
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
- |
设备完整不缺件,正运回中国; |
国内
|
| 3796 |
KLA Tencor 6400晶圆检测设备 |
KLA科磊 |
6400 |
1994 |
竞标中.. |
国外
|
| 3779 |
KLA Tencor 7700缺陷测试仪 |
KLA科磊 |
Tencor-7700 |
1997 |
- |
国外
|
| 3775 |
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
2001 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 3774 |
KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
1992 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 3773 |
KLA SURFSCAN 4500颗粒检测仪 |
KLA科磊 |
4500 |
- |
4" |
国外
|
| 3772 |
KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 |
KLA科磊 |
SP3 |
2014 |
在线热机,2月份拆机; |
国外
|
| 3638 |
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国内
|
| 3635 |
KLA Tencor SFS4500颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
6"设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 3633 |
KLA Surfscan SP5晶圆缺陷检测 |
KLA |
Surfscan SP5 |
- |
设备完整不缺件; |
已售出
|
| 3623 |
KLA UV-1050膜厚测量仪 |
KLA |
UV-1050 |
- |
6-8"设备完整不缺件; |
国内
|
| 3538 |
KLA FT-750膜厚测量仪 |
KLA |
FT-750 |
- |
6-8"设备完整不缺件,有3台现货; |
国内
|
| 3511 |
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3510 |
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3509 |
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3508 |
KLA Viper 2401缺陷测试仪 |
KLA科磊 |
Viper 2401 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3507 |
KLA Tencor 7700缺陷测试仪 |
KLA科磊 |
Tencor-7700 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3506 |
KLA AIT 1缺陷测试仪 |
KLA科磊 |
AIT 1 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3505 |
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
KLA科磊 |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3474 |
KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
- |
6"设备完整不缺件; |
国内
|
| 3183 |
KLA OP2600膜厚仪 |
KLA |
OP2600 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 2866 |
KLA CI-T130 lead scanner扫脚机 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
1 |
国外
|
| 2865 |
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
2 |
国外
|
| 2864 |
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 |
KLA科磊 |
CI-T120 |
- |
3 |
国外
|
| 2863 |
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
1 |
国外
|
| 2862 |
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 |
KLA科磊 |
CI-T130 |
- |
4 |
国外
|
| 2861 |
KLA CI-T830 Lead scanner扫脚机 |
KLA科磊 |
CI-T830 |
- |
1 |
国外
|
| 2860 |
KLA Industrial Camera工业相机 |
KLA科磊 |
IVC-1600 |
- |
2 |
国外
|
| 2859 |
KLA Industrial Camera工业相机 |
KLA科磊 |
IVC-2000 |
- |
2 |
国外
|
| 2858 |
KLA IVC-4000缺陷检测设备 |
KLA科磊 |
IVC-4000 |
- |
1 |
国外
|
| 2857 |
KLA-Tencor (ICOS) CD测量 |
KLA科磊 |
Manual |
- |
1 |
国外
|
| 2856 |
KLA-Tencor (ICOS) CD测量 |
KLA科磊 |
ICOS6100_7.6 |
- |
1 |
国外
|
| 2803 |
KLA FLX-5400 Flexus晶圆翘曲度测量仪 |
KLA科磊 |
FLX-5400 |
2015-02-01 |
已打包 |
国外
|
| 2802 |
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
1999 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2801 |
KLA Surfscan SP3(上料机构) |
KLA科磊 |
SP3 |
2012.3 |
上料机构; |
国外
|
| 2794 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA科磊 |
SP2 |
2011 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2786 |
KLA UV-1050薄膜测量系统 |
KLA科磊 |
UV-1050 |
1996.5 |
200mm As-Is, Where-Is; |
国外
|
| 2774 |
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2002.8 |
300mm As-Is, Where-Is; |
国外
|
| 2773 |
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2005.2 |
300mm,Where-Is,不含硬盘; |
国外
|
| 2764 |
KLA Surfscan SP1 TBI颗粒测量仪 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
- |
Equipment Make: KLA-Te |
国外
|
| 2550 |
HITACHI KLA8100扫描电镜 |
HITACHI |
KLA8100 |
- |
6"有1台; |
已售出
|
| 2549 |
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
6"设备完整不缺件; |
已售出
|
| 2484 |
KLA RS75方阻测试仪 |
KLA |
RS75 |
2000 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 2361 |
KLA Leica INM300金相显微镜 |
KLA |
INM300 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2360 |
KLA P-15单向节流阀 |
KLA科磊 |
P-15 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2359 |
KLA PHX DF 5.0缺陷检测设备 |
KLA科磊 |
PHX DF 5.0 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2358 |
KLA Ultrascan 9300掩模版检测设备 |
KLA科磊 |
Ultrascan 9300 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2357 |
KLA Ultrascan 9000光测量系统 |
KLA科磊 |
Ultrascan 9000 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2356 |
KLA AFS-3220晶圆缺陷检测 |
KLA科磊 |
AFS-3220 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2355 |
KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 |
KLA科磊 |
SP3 |
- |
设备完整不缺件,含序列号; |
国内
|
| 2354 |
KLA Surfscan SP1 DLS晶圆检测仪 |
KLA科磊 |
SP1-DLS |
- |
6-12 As-is |
国外
|
| 2320 |
KLA ACROTEC6020晶圆缺陷检测设备 |
KLA科磊 |
ACROTEC 6020 |
- |
Inspection system/PC/H |
国外
|
| 2316 |
KLA 8935-FFC AOI晶圆检测设备 |
KLA |
8935-FFC |
2022 |
设备完整不缺件;
全新机420-650万美 |
国内
|
| 2311 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 |
KLA科磊 |
UV1280SE |
2000 |
Film Thickness Measure |
国外
|
| 2310 |
KLA Filmetrics F20薄膜测厚仪 |
KLA科磊 |
F20 |
2021 |
Thickness Measurement |
国外
|
| 2304 |
KLA ADE 9500晶圆计量与检测设备 |
KLA |
ADE-9500 |
- |
Multifunctional measur |
国外
|
| 2291 |
KLA-Tencor M-Gage 300薄膜电阻测量设备 |
KLA科磊 |
M-Gage 300 |
2001 |
Al Thickness measureme |
国外
|
| 2284 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
- |
有两台 |
国外
|
| 2256 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA科磊 |
SP1-TBI |
2000 |
Kla-tencor One Technol |
已售出
|
| 2151 |
KLA FLX2908缺陷检测设备 |
KLA |
FLX2908 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 2149 |
KLA Tencor 8620晶圆检测系统 |
KLA |
8620 |
- |
12"设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
| 2148 |
KLA 2350晶圆检测设备 |
KLA |
2350 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 1955 |
KLA EDR 5200+电子束缺陷检查设备 |
KLA |
5200+ |
- |
设备完整不缺件,无硬盘; |
国内
|
| 1952 |
KLA CANDELA CS2薄膜测量 |
KLA |
CANDELA CS2 |
- |
- |
国内
|
| 1921 |
KLA 5200XP量测设备 |
KLA |
5200XP |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 1663 |
KLA AIT Ⅱ缺陷检测仪 |
KLA科磊 |
AIT Ⅱ |
1999 |
METROLOGY |
国外
|
| 1662 |
KLA TP500热波检测仪 |
KLA |
TP500 |
1997 |
设备完整不缺件,有2台现货,已翻新好; |
国内
|
| 1661 |
KLA EDR-5210S晶圆缺陷检查系统 |
KLA科磊 |
EDR-5210S |
2011 |
METROLOGY |
国外
|
| 1660 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 |
KLA科磊 |
UV1280SE |
2003 |
METROLOGY |
国外
|
| 1576 |
KLA AIT II-I缺陷检查仪 |
KLA |
AIT II-I |
2001 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 1575 |
KLA 2133缺陷检查设备 |
KLA |
2133 |
2011 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 1574 |
KLA 2132缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 1572 |
KLA CRS1010缺陷检查仪 |
KLA |
CRS1010 |
1995/1996 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 1571 |
KLA TENCOR AIT 8010缺陷检查仪 |
KLA |
TENCOR AIT 8010 |
1998 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 1570 |
KLA TENCOR SFS 7700颗粒测试仪 |
KLA |
TENCOR SFS 7700 |
1995*2 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 1569 |
KLA TENCOR SFS 7600颗粒测试仪 |
KLA |
TENCOR SFS 7600 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 1568 |
KLA TENCOR SFS 7600M颗粒测试仪 |
KLA |
TENCOR SFS 7600M |
1994/1995 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 1551 |
KLA RS55方阻测试仪 |
KLA |
RS55 |
2000 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
已售出
|
| 1550 |
KLA TENCOR VP10E阻值测试仪 |
KLA |
TENCOR VP10E |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 1549 |
KLA TENCOR VP10阻值测试仪 |
KLA |
TENCOR VP10 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 1548 |
KLA TENCOR Mgage300阻值测试仪 |
KLA |
TENCOR Mgage300 |
1993 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 1519 |
KLA Tencor 2552缺陷数据分析处理仪 |
KLA科磊 |
2552 |
- |
As-is |
国外
|
| 1495 |
KLA Spectra FX200薄膜量测 |
KLA |
FX200 |
2008 |
设备完整不缺件,在新加坡; |
国外
|
| 1455 |
KLA Viper 2435晶圆检测设备 |
KLA |
Viper 2435 |
2006 |
- |
国外
|
| 1454 |
KLA Viper 2438晶圆检测设备 |
KLA |
Viper 2438 |
2008 |
- |
国外
|
| 1423 |
KLA Spectra FX200薄膜量测 |
KLA |
FX200 |
2006 |
[Power-on] 2port(TDK), |
国外
|
| 1394 |
KLA CRS1010晶圆载台控制器 |
KLA科磊 |
CRS1010 |
1998 |
Microscope |
国外
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| 1370 |
KLA Polylite 88薄膜测量系统 |
KLA |
Polylite 88 |
- |
- |
国外
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| 1325 |
KLA Viper 2438晶圆检测设备-重 |
KLA |
Viper 2438 |
2010 |
- |
国外
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| 1324 |
KLA Tencor ES31晶圆检查系统 |
KLA |
ES31 |
2004 |
E-beam Inspection / SE |
国外
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| 1194 |
KLA DP2缺陷检测设备 |
KLA |
DP2 |
2012 |
DP2 Data Prep Station |
国外
|
| 1110 |
KLA 8920i AOI晶圆检测设备 |
KLA |
8920i |
2022 |
设备完整不缺件;
全新机280-400万美 |
国内
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| 1104 |
KLA 8935i AOI晶圆检测设备 |
KLA |
8935i |
2022 |
设备完整不缺件;
全新机350-550万美 |
国内
|
| 1043 |
KLA 2132缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件; |
国内
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| 1032 |
KLA P170探针式表面检测仪 |
KLA |
P170 |
2022 |
设备完整不缺件; |
国内
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| 988 |
KLA NANOMAPPER表面轮廓仪 |
KLA |
NANOMAPPER |
2006 |
[As-is] 2x Open Foup t |
国外
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| 967 |
KLA HRP-340表面轮廓测量系统 |
KLA |
HRP-340 |
2004 |
2port(Asyst ISO port), |
国外
|
| 966 |
KLA EDR-5210电子束缺陷再检测 |
KLA |
EDR-5210 |
2010 |
2x Load port( Brooks, |
国外
|
| 965 |
KLA EDR-5210电子束缺陷再检测-重 |
KLA |
EDR-5210 |
2010 |
2xLoad port(Brooks Fix |
国外
|
| 964 |
KLA Puma 9130晶圆检测系统 |
KLA |
Puma 9130 |
2005 |
[As-is] 2ea*Loadport(A |
已售出
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| 963 |
KLA Puma 9000晶圆检测系统 |
KLA |
Puma 9000 |
2005 |
[As-is] Handler missin |
国外
|
| 962 |
KLA WI-2280晶圆检测机台 |
KLA |
WI-2280 |
- |
- |
国外
|
| 961 |
KLA WI-2280晶圆检测机台-重 |
KLA |
WI-2280 |
- |
- |
国外
|
| 960 |
KLA AIT UV晶圆检测设备 |
KLA |
AIT UV |
2003 |
- |
国外
|
| 841 |
KLA Puma 9000晶圆检测系统-重 |
KLA |
Puma 9000 |
2005 |
[Semi power-on] 2port( |
国外
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| 823 |
KLA Puma 9000晶圆检测系统-重 |
KLA |
Puma 9000 |
2005 |
[As-is] 2ea*Loadport(P |
国外
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| 533 |
KLA Aleris CX晶圆检测系统 |
KLA |
Aleris CX |
2007 |
[As-is] 2*loadport(TDK |
国外
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| 483 |
KLA Surfscan 2.1晶圆检测系统 |
KLA |
Surfscan 2.1 |
- |
- |
国外
|
| 482 |
KLA MPV CD2 AMC检测设备 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
- |
- |
国外
|
| 481 |
KLA MPV CD2 AMC检测设备-重 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
- |
- |
国外
|
| 479 |
KLA MPV-CD尺寸量测设备 |
KLA |
MPV-CD |
- |
- |
国外
|
| 478 |
KLA SFS7700颗粒测试仪设备 |
KLA |
SFS7700 |
- |
- |
国外
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| 477 |
KLA Ergolux表面轮廓仪 |
KLA |
Ergolux |
- |
- |
国外
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| 476 |
KLA INM100+INS10显微镜 |
KLA |
INM100+INS10 |
- |
- |
国外
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| 372 |
KLA CI-T53P检测设备 |
KLA |
CI-T53P |
- |
1 SET |
国外
|
| 371 |
KLA ICOS T830测试系统 |
KLA |
ICOS T830 |
- |
1 SET |
国外
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| 361 |
KLA candela CS20表面分析仪 |
KLA |
CS20 |
2011 |
4-8"设备完整不缺件;
卡盘尺寸：3.7 |
国外
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| 70 |
KLA Leica AT500激光跟踪仪 |
KLA |
AT500 |
- |
1 SET |
国外
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页次：
1
/ 1页 每页：500 设备数：162
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