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| 龙玺精密-为您提供膜厚仪设备买卖+翻新全套解决方案
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| 编 号：3666 (发布时间:2026.4.7) |
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| 名 称：KLA-OP2600膜厚仪 |
| 厂 商：KLA |
| 型 号：OP2600 |
| 年 份：1997 |
| 状 态：
国外
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OP2600设备完整不缺件,已翻新;
Fully refurbished system for 150 & 200mm wafer
TFMS version: V3.31a7 based on DOS
Measurement tool : BPR, BPE, VAS
BPR - Beam Profile Reflectometry : still the best way to characterize dielectric
films
BPE - TWI patented Beam Profile Ellipsometer
VAS(Visible Spectroscopy) : 470-800 nm
SBC board with CPU Pentium Ⅲ 600 MHz
Cognex 3000
Overhauled all systems and Robot,Controller(ESC200) |
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| 龙玺精密-为您提供二手膜厚仪买卖+翻新全套解决方案，国内半导体工艺设备非标定制。龙先生18868521984(微) |
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