| 日期-ID |
图 片 |
设备名称 |
制造商 |
型号 |
年份 |
详细配置 |
状 态 |
| 2026.5.23-1861 |
 |
KLA Tencor 8520表面缺陷检测系统 |
KLA |
8520 |
2022 |
设备完整不缺件,在欧洲含拆卸+搬迁+装箱,不含运输和CCIC; |
国外
|
| 2026.5.10-2725 |
 |
KLA TP500热波检测仪 |
KLA |
TP500 |
2002 |
设备完整不缺件,已翻新; |
国外
|
| 2026.5.8-3167 |
|
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2026.5.3-70 |
|
KLA Leica AT500激光跟踪仪 |
KLA |
AT500 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2026.5.3-372 |
|
KLA CI-T53P检测设备 |
KLA |
CI-T53P |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2026.5.2-3511 |
|
KLA 2133缺陷检测设备 |
KLA |
2133 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
| 2026.5.2-3239 |
|
KLA Aleris 8350薄膜量测系统 |
KLA |
Aleris 8350 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2026.5.2-3237 |
|
KLA UV1250SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV1250SE |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2026.5.2-3102 |
|
KLA Viper2430晶圆检测设备 |
KLA |
Viper2430 |
2006 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2026.5.2-2932 |
|
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
Tencor 8720 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
| 2026.5.2-1999 |
|
KLA UV-1050薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1050 |
- |
设备完整不缺件,有4台现货; |
国外
|
| 2026.5.2-1455 |
|
KLA Viper2435晶圆检测设备 |
KLA |
Viper2435 |
2006 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2026.5.2-2549 |
|
KLA 2138缺陷检测设备 |
KLA |
2138 |
- |
设备完整不缺件,有4台现货; |
国外
|
| 2026.4.10-2354 |
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 2026.4.7-3666 |
 |
KLA Therma-wave OP2600膜厚测量设备 |
KLA |
OP2600 |
1997 |
设备完整不缺件,已翻新;
Fully refurbished system for 15 |
国外
|
| 2026.4.7-3641 |
 |
KLA Therma-wave OP5240膜厚测量设备 |
KLA |
OP5240 |
2000 |
设备完整不缺件,已翻新;
Fully refurbished system for 15 |
国外
|
| 2026.3.29-3885 |
|
KLA Tencor 8620表面晶圆检测系统 |
KLA |
8620 |
- |
设备完整不缺件,目前在欧洲; |
国外
|
| 2026.1.8-4647 |
 |
KLA EDR-7380缺陷检测设备 |
KLA |
EDR-7380 |
- |
12"设备完整不缺件,300mm在线热机; |
国外
|
| 2025.11.25-1495 |
|
KLA Spectra FX200薄膜量测 |
KLA |
FX200 |
2008 |
设备完整不缺件,在新加坡; |
国外
|
| 2025.7.30-4608 |
|
KLA STARLIGHT301(300SL)测量设备 |
KLA |
STARLIGHT301(300SL) |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.30-4607 |
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.30-4606 |
|
KLA SCD-XT测量设备 |
KLA |
SCD-XT |
- |
12"设备完整不缺件,有3台现货; |
国外
|
| 2025.7.30-4605 |
|
KLA Archer A300 AIM测量设备 |
KLA |
Archer A300 AIM |
2010 |
设备完整不缺件,日本仓库中; |
国外
|
| 2025.7.30-4569 |
|
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
| 2025.7.18-4559 |
|
KLA ES31量测设备 |
KLA |
ES31 |
- |
300mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.18-4213 |
|
KLA 2401缺陷检测设备 |
KLA |
2401 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.18-4523 |
|
KLA FLX2908晶圆表面检测设备 |
KLA |
FLX2908 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.18-4432 |
|
KLA 2139缺陷检测设备 |
KLA |
2139 |
- |
200mm设备完整不缺件,设备状态差; |
国外
|
| 2025.7.18-4522 |
|
KLA Tencor SFS4500颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.18-4512 |
|
KLA AWUS3110晶圆探针台 |
KLA |
AWUS3110 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.18-4499 |
|
KLA UV1250SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1250SE |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.18-4433 |
|
KLA AIT-3缺陷检测系统 |
KLA |
AIT-3 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.18-4346 |
|
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.18-4386 |
|
KLA Archer 10套刻精度测量设备 |
KLA |
Archer 10 |
- |
200mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.18-4524 |
|
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
150mm设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.17-2802 |
|
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
1999 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.17-361 |
|
KLA Tencor CS20表面分析仪 |
KLA |
CS20 |
2011 |
4-8"设备完整不缺件;
卡盘尺寸：3.7"
光学头组件：
波长：405 nm
最 |
国外
|
| 2025.7.17-3883 |
 |
KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
1995 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.7.1-2794 |
|
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2011 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.3.10-3890 |
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
2017 |
设备完整不缺件,在线热机在亚洲; |
国外
|
| 2025.3.1-2151 |
|
KLA FLX2908缺陷检测设备 |
KLA |
FLX2908 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.3.1-2149 |
|
KLA Tencor 8620晶圆检测系统 |
KLA |
8620 |
- |
12"设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
| 2025.3.1-2148 |
|
KLA 2350晶圆检测设备 |
KLA |
2350 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 2025.2.14-4157 |
 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2011 |
设备完整不缺件,在线热机,晶圆片300mm; |
国外
|
| 2025.1.11-4142 |
|
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
1997 |
2016年翻新,激光器于2020年3月更换,最后一次PM于2023年8月在美国进行，2", |
国外
|
| 2024.5.29-3971 |
 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国外
|
| 2024.5.9-3892 |
|
KLA Tencor CS10 R表面分析仪 |
KLA |
CS10 R |
- |
- |
国外
|
| 2024.5.9-3891 |
|
KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
2007 |
- |
国外
|
| 2024.4.2-3844 |
 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
2007 |
TBI翻新掩模和晶圆检测,300/200mm x 3个端口,设备在美国; |
国外
|
| 2024.3.15-3825 |
|
KLA Tencor UV1280SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1280SE |
2001 |
用途：薄膜测量系统
型号：UV1280SE
出厂日期：2001
系统配置：
目前配 |
国外
|
| 2024.3.13-3823 |
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
已翻新; |
国外
|
| 2024.2.16-3801 |
|
KLA Leica INS3000侧扫声纳 |
KLA |
INS3000 |
1999 |
有2台,月底卖掉.. |
国外
|
| 2024.2.7-3800 |
 |
KLA Tencor RS75薄膜测量系统 |
KLA |
RS-75 |
- |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2024.2.1-3796 |
 |
KLA Tencor SFS6400晶圆检测设备 |
KLA |
SFS-6400 |
1994 |
竞标中.. |
国外
|
| 2024.1.17-3779 |
 |
KLA Tencor SFS7700缺陷测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
1997 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2024.1.9-3773 |
 |
KLA Tencor SFS4500颗粒检测仪 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
4" |
国外
|
| 2024.1.8-3772 |
 |
KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 |
KLA |
SP3 |
2014 |
在线热机,2月份拆机; |
国外
|
| 2023.9.9-2803 |
|
KLA FLX-5400 Flexus晶圆翘曲度测量仪 |
KLA |
FLX-5400 |
2015-02-01 |
已打包 |
国外
|
| 2023.9.9-2856 |
|
KLA-Tencor (ICOS) CD测量 |
KLA |
ICOS6100_7.6 |
- |
1 |
国外
|
| 2023.9.9-2857 |
|
KLA-Tencor (ICOS) CD测量 |
KLA |
Manual |
- |
1 |
国外
|
| 2023.9.9-2858 |
|
KLA IVC-4000缺陷检测设备 |
KLA |
IVC-4000 |
- |
1 |
国外
|
| 2023.9.9-2859 |
|
KLA Industrial Camera工业相机 |
KLA |
IVC-2000 |
- |
2 |
国外
|
| 2023.9.9-2860 |
|
KLA IVC-1600工业相机 |
KLA |
IVC-1600 |
- |
2 |
国外
|
| 2023.9.9-2861 |
|
KLA CI-T830 lead scanner扫脚机 |
KLA |
CI-T830 |
- |
1 |
国外
|
| 2023.9.9-2862 |
|
KLA CI-T130 lead scanner扫脚机 |
KLA |
CI-T130 |
- |
4 |
国外
|
| 2023.9.8-2801 |
|
KLA Surfscan SP3(上料机构) |
KLA |
SP3 |
2012.3 |
上料机构; |
国外
|
| 2023.4.24-2774 |
|
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2002.8 |
300mm As-Is, Where-Is;不含硬盘 |
国外
|
| 2023.4.24-2773 |
|
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2005.2 |
300mm,Where-Is,不含硬盘; |
国外
|
| 2023.4.24-2786 |
|
KLA UV-1050薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1050 |
1996.5 |
200mm As-Is, Where-Is;含软件及硬盘 |
国外
|
| 2023.4.19-2764 |
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
Equipment Make: KLA-Tencor
Equipment Model |
国外
|
| 2022.11.2-2359 |
|
KLA PHX DF 5.0缺陷检测设备 |
KLA |
PHX DF 5.0 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2022.11.2-2361 |
|
KLA Leica INM300金相显微镜 |
KLA |
INM300 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2022.11.2-2360 |
|
KLA P-15单向节流阀 |
KLA |
P-15 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2022.11.2-2358 |
|
KLA Ultrascan 9300掩模版检测设备 |
KLA |
Ultrascan-9300 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2022.11.2-2356 |
|
KLA AFS-3220晶圆缺陷检测 |
KLA |
AFS-3220 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2022.11.2-2357 |
|
KLA Ultrascan 9000光测量系统 |
KLA |
Ultrascan-9000 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2022.7.3-2320 |
|
KLA Acrotec 6020晶圆缺陷检测设备 |
KLA |
Acrotec-6020 |
- |
Inspection system/PC/HDD. |
国外
|
| 2022.6.15-2304 |
|
KLA ADE 9500晶圆计量与检测设备 |
KLA |
ADE-9500 |
- |
Multifunctional measurement |
国外
|
| 2022.6.15-2291 |
|
KLA Tencor M-Gage 300薄膜电阻测量设备 |
KLA |
M-Gage 300 |
2001 |
Al Thickness measurement 8寸 |
国外
|
| 2022.6.15-2310 |
|
KLA Filmetrics F20薄膜测厚仪 |
KLA |
F20 |
2021 |
Thickness Measurement |
国外
|
| 2022.6.15-2311 |
|
KLA Tencor UV 1280SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1280SE |
2000 |
Film Thickness Measurement |
国外
|
| 2022.6.10-2284 |
|
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
KLA |
SP1-TBI |
- |
有2台; |
国外
|
| 2021.10.1-823 |
|
KLA Puma 9000晶圆检测系统-重 |
KLA |
Puma-9000 |
2005 |
[As-is] 2ea*Loadport(Phoenix), Yaskawa(Robot& |
国外
|
| 2021.10.1-533 |
|
KLA Aleris CX晶圆检测系统 |
KLA |
Aleris CX |
2007 |
[As-is] 2*loadport(TDK TAS300), Yaskwa(Robot |
国外
|
| 2021.10.1-483 |
|
KLA Surfscan 2.1晶圆检测系统 |
KLA |
Surfscan 2.1 |
- |
- |
国外
|
| 2021.10.1-482 |
|
KLA MPV CD2 AMC检测设备 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
- |
- |
国外
|
| 2021.10.1-481 |
|
KLA MPV CD2 AMC检测设备-重 |
KLA |
MPV CD2 AMC |
- |
- |
国外
|
| 2021.10.1-479 |
|
KLA MPV-CD尺寸量测设备 |
KLA |
MPV-CD |
- |
- |
国外
|
| 2021.10.1-476 |
|
KLA INM100+INS10显微镜 |
KLA |
INM100+INS10 |
- |
- |
国外
|
| 2021.10.1-477 |
|
KLA Ergolux表面轮廓仪 |
KLA |
Ergolux |
- |
- |
国外
|
| 2021.10.1-841 |
|
KLA Puma 9000晶圆检测系统-重 |
KLA |
Puma-9000 |
2005 |
[Semi power-on] 2port(Asyst ISO port), Robot |
国外
|
| 2021.10.1-988 |
|
KLA NANOMAPPER表面轮廓仪 |
KLA |
NANOMAPPER |
2006 |
[As-is] 2x Open Foup type, Kensington(Robot&C |
国外
|
| 2021.10.1-1394 |
|
KLA CRS1010晶圆载台控制器 |
KLA |
CRS1010 |
1998 |
Microscope |
国外
|
| 2021.10.1-1370 |
|
KLA Polylite 88薄膜测量系统 |
KLA |
Polylite 88 |
- |
- |
国外
|
| 2021.10.1-478 |
|
KLA SFS7700颗粒测试仪设备 |
KLA |
SFS7700 |
- |
- |
国外
|
| 2021.10.1-1324 |
|
KLA Tencor ES31晶圆检查系统 |
KLA |
ES31 |
2004 |
E-beam Inspection / SEMs in Microscopes, Opti |
国外
|
| 2021.10.1-1663 |
|
KLA AIT Ⅱ缺陷检测仪 |
KLA |
AIT Ⅱ |
1999 |
METROLOGY |
国外
|
| 2021.10.1-1661 |
|
KLA EDR 5210S晶圆缺陷检查系统 |
KLA |
EDR-5210S |
2011 |
METROLOGY |
国外
|
| 2021.10.1-1660 |
|
KLA Tencor UV 1280SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV-1280SE |
2003 |
METROLOGY |
国外
|
| 2021.10.1-1519 |
|
KLA Tencor 2552缺陷数据分析处理仪 |
KLA |
2552 |
- |
As-is |
国外
|
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