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| 图 片 | 设备名称 | 制造商 | 型号 | 年份 | 详细配置 | 状 态 | |||
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KLA-EDR-7380缺陷检测设备 | KLA | EDR-7380 | - | 12"设备完整不缺件,300mm在线热机; | 国外 | |||
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KLA -STARLIGHT301(300SL)测量设备 | KLA | STARLIGHT301(300SL) | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA -SP1-TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA -SCD-XT测量设备 | KLA | SCD-XT | - | 12"设备完整不缺件,有3台现货; | 国外 | |||
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KLA -Archer A300 AIM测量设备 | KLA | Archer A300 AIM | 2010 | 设备完整不缺件,日本仓库中; | 国外 | |||
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KLA-SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国外 | |||
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KLA-SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | 2007/2012 | 设备完整不缺件,有2台现货,安装调试+质保6个月; | 国内 | |||
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KLA-ES31量测设备 | KLA | ES31 | - | 300mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-2131缺陷检测设备 | KLA | 2131 | - | 150mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-FLX2908晶圆表面检测设备 | KLA | FLX2908 | - | 150mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-SFS-4500颗粒检测系统 | KLA | SFS-4500 | - | 150mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-AWUS3110探针台 | KLA | AWUS3110 | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-UV-1250SE薄膜测量系统 | KLA | UV-1250SE | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-AIT-3缺陷检测系统 | KLA | AIT-3 | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-2139缺陷检测设备 | KLA | 2139 | - | 200mm设备完整不缺件,设备状态差; | 国外 | |||
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KLA-Archer 10套刻精度测量设备 | KLA | Archer 10 | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-2131缺陷检测设备 | KLA | 2131 | - | 150mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-8520表面缺陷检测系统 | KLA | 8520 | 2022 | 6"设备完整不缺件; 电压:208/230+10% VAC,单相 |
国外 | |||
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KLA-2401缺陷检测设备 | KLA | 2401 | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-SF27缺陷检测 | KLA | SF27 | - | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-CS20R表面分析仪 | KLA | CS20R | 2010 | 设备完整不缺件,安装调试+质保6个月,费用加25万元; | 国内 | |||
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KLA-Leica INS3300晶圆缺陷检测 | KLA | Leica INS3300 | 2015 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | 2011 | 设备完整不缺件,在线热机,晶圆片300mm; | 国外 | |||
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KLA-8420表面缺陷检测系统 | KLA | 8420 | 2020 | 6"设备完整不缺件,20年入厂,设备九成新以上,目前在湖南仓库中, | 国内 | |||
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KLA-SFS-6220颗粒检测系统 | KLA | SFS-6220 | 1997 | 2016年翻新,激光器于2020年3月更换,最后一次PM于2023 | 国外 | |||
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KLA-P15台阶仪 | KLA | P15 | 2006 | 设备完整不缺件,质保3月加3万元; | 国内 | |||
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KLA-RS55方阻测试仪 | KLA | RS55 | 2000 | 设备完整不缺件,有2台现货(有台缺件,打包卖+20W); | 国内 | |||
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KLA-SFS-6420晶圆检测系统 | KLA | SFS-6420 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国外 | |||
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KLA-2132缺陷检测设备 | KLA | 2132 | 1996 | 设备完整不缺件,安装调试加70W左右,备件成本太高; | 国内 | |||
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KLA-2135缺陷检测设备 | KLA | 2135 | 1998 | 在线热机,设备完整不缺件,安装调试加10W; | 国内 | |||
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KLA-CS10 R表面分析仪 | KLA | CS10 R | - | - | 国外 | |||
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KLA-SFS-6420晶圆检测系统 | KLA | SFS-6420 | 2007 | - | 国外 | |||
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KLA-8720芯片缺陷检测系统 | KLA | 8720 | 2017 | 设备完整不缺件,在线热机在亚洲; | 国外 | |||
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KLA-8620表面晶圆检测系统 | KLA | 8620 | - | 设备完整不缺件,目前在欧洲; | 国外 | |||
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KLA-SFS-6200晶圆检测系统 | KLA | SFS-6200 | 1995 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-8720芯片缺陷检测系统 | KLA | 8720 | 2007 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-SP1-TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | 2007 | TBI翻新掩模和晶圆检测,300/200mm x 3个端口,设备在 | 国外 | |||
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KLA-SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | 2001 | 设备缺件; | 国内 | |||
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KLA-SFS-6420晶圆检测系统 | KLA | SFS-6420 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA | UV-1280SE | 2001 | 用途：薄膜测量系统 型号：UV1280SE 出厂日期：2001 |
国外 | |||
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KLA-SP1-TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | 已翻新; | 国外 | |||
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KLA-UV1280SE薄膜测量系统 | KLA | UV1280SE | 2000 | 已翻修完无缺件,可验机保固3个月; | 国内 | |||
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KLA-INS3000侧扫声纳设备 | KLA | INS3000 | 1999 | 有2台,月底卖掉.. | 国外 | |||
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KLA-RS-75薄膜测量系统 | KLA | RS-75 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-SFS-6220颗粒检测系统 | KLA | SFS-6220 | - | 设备完整不缺件,正运回中国; | 已售出 | |||
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KLA-SFS-6400晶圆检测设备 | KLA | SFS-6400 | 1994 | 竞标中.. | 国外 | |||
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KLA-SFS-7700缺陷测试仪 | KLA | SFS-7700 | 1997 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-SFS-6220颗粒检测系统 | KLA | SFS-6220 | 2001 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-SFS-6200晶圆检测系统 | KLA | SFS-6200 | 1992 | 设备完整不缺件,安装调试+质保6个月,费用加25万元; | 国内 | |||
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KLA-SFS-4500颗粒检测仪 | KLA | SFS-4500 | - | 4" | 国外 | |||
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KLA-SP3晶圆缺陷检测 | KLA | SP3 | 2014 | 在线热机,2月份拆机; | 国外 | |||
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KLA-OP2600膜厚仪 | KLA | OP2600 | 1997 | 设备完整不缺件,已翻新; Fully refurbished s |
国外 | |||
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KLA-OP5240膜厚测量设备 | KLA | OP5240 | 2000 | 设备完整不缺件,已翻新; Fully refurbished s |
国外 | |||
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KLA-2131缺陷检测设备 | KLA | 2131 | - | 8"设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-SFS-4500颗粒检测系统 | KLA | SFS-4500 | - | 6"设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA-Surfscan SP5晶圆缺陷检测 | KLA | Surfscan SP5 | - | 设备完整不缺件; | 已售出 | |||
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KLA-UV-1050膜厚测量仪 | KLA | UV-1050 | - | 6-8"设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-FT-750膜厚测量仪 | KLA | FT-750 | - | 6-8"设备完整不缺件,有3台现货; | 国内 | |||
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KLA-2133缺陷检测设备 | KLA | 2133 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国外 | |||
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KLA-Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA | Kevex 7600 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA-Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA | Kevex 7600 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA-Viper 2401缺陷测试仪 | KLA | Viper 2401 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA-SFS-7700缺陷测试仪 | KLA | SFS-7700 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA-AIT 1缺陷测试仪 | KLA | AIT 1 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA-Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA | Kevex 7600 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA-SFS-6200晶圆检测系统 | KLA | SFS-6200 | - | 6"设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-UV-1050膜厚测试仪 | KLA | UV-1050 | - | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-Aleris 8350薄膜量测系统 | KLA | Aleris 8350 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-UV1250SE薄膜测量系统 | KLA | UV1250SE | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-SMI3050(C/W)测试仪 | KLA | SMI3050(C/W) | 2004 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-OP2600膜厚仪 | KLA | OP2600 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA-8720芯片缺陷检测系统 | KLA | 8720 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-Viper2430晶圆检测设备 | KLA | Viper2430 | 2006 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-Tencor 8720芯片缺陷检测系统 | KLA | Tencor 8720 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国外 | |||
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KLA-CS10表面分析仪 | KLA | CS10 | 2006 | 设备完整不缺件,现货热机,可安装调试; | 国内 | |||
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KLA-CI-T130扫脚机 | KLA | CI-T130 | - | 4 | 国外 | |||
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KLA-CI-T830扫脚机 | KLA | CI-T830 | - | 1 | 国外 | |||
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KLA-IVC-1600工业相机 | KLA | IVC-1600 | - | 2 | 国外 | |||
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KLA-IVC-2000工业相机 | KLA | IVC-2000 | - | 2 | 国外 | |||
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KLA-IVC-4000缺陷检测设备 | KLA | IVC-4000 | - | 1 | 国外 | |||
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KLA-Manual测量设备 | KLA | Manual | - | 1 | 国外 | |||
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KLA-ICOS6100_7.6测量设备 | KLA | ICOS6100_7.6 | - | 1 | 国外 | |||
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KLA-FLX-5400晶圆翘曲度测量仪 | KLA | FLX-5400 | 2015-02-01 | 已打包 | 国外 | |||
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KLA-SFS-6220颗粒检测系统 | KLA | SFS-6220 | 1999 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-SP3上料机构 | KLA | SP3 | 2012.3 | 上料机构; | 国外 | |||
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KLA-SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | - | 设备完整不缺件,在线热机在江苏; | 国内 | |||
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KLA-UV-1050薄膜测量系统 | KLA | UV-1050 | 1996.5 | 200mm As-Is, Where-Is;含软件及硬盘 | 国外 | |||
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KLA-Leica INS3300晶圆缺陷检测 | KLA | Leica INS3300 | 2002.8 | 300mm As-Is, Where-Is;不含硬盘 | 国外 | |||
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KLA-Leica INS3300晶圆缺陷检测 | KLA | Leica INS3300 | 2005.2 | 300mm,Where-Is,不含硬盘; | 国外 | |||
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KLA-SP1-TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | Equipment Make: KLA-Tencor Equ |
国外 | |||
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KLA-TP500热波检测仪 | KLA | TP500 | 2002 | 设备完整不缺件,已翻新; | 国外 | |||
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KLA-2138缺陷检测设备 | KLA | 2138 | - | 设备完整不缺件,有4台现货; | 国外 | |||
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KLA-AS-500测试仪 | KLA | AS-500 | - | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-RS75方阻测试仪 | KLA | RS75 | 2000 | 设备完整不缺件; | 已售出 | |||
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KLA-INM300金相显微镜 | KLA | INM300 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA-P-15单向节流阀 | KLA | P-15 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA-PHX DF 5.0缺陷检测设备 | KLA | PHX DF 5.0 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA-Ultrascan-9300掩模版检测设备 | KLA | Ultrascan-9300 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA-Ultrascan-9000光测量系统 | KLA | Ultrascan-9000 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA-AFS-3220晶圆缺陷检测 | KLA | AFS-3220 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA-SP3晶圆缺陷检测 | KLA | SP3 | - | 设备完整不缺件,含序列号; | 国内 | |||
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KLA-SP1-TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-Acrotec-6020晶圆缺陷检测设备 | KLA | Acrotec-6020 | - | Inspection system/PC/HDD. | 国外 | |||
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KLA-8935-FFC晶圆检测设备 | KLA | 8935-FFC | 2022 | 设备完整不缺件; 全新机420-650万美元(3000-4650 |
已售出 | |||
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KLA-UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA | UV-1280SE | 2000 | Film Thickness Measurement | 国外 | |||
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KLA-F20薄膜测厚仪 | KLA | F20 | 2021 | Thickness Measurement | 国外 | |||
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KLA-ADE-9500晶圆计量与检测设备 | KLA | ADE-9500 | - | Multifunctional measurement | 国外 | |||
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KLA-M-Gage 300薄膜电阻测量设备 | KLA | M-Gage 300 | 2001 | Al Thickness measurement 8寸 | 国外 | |||
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KLA-SP1-TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | 有2台; | 国外 | |||
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KLA-SP1-TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | 2000 | Kla-tencor One Technology Driveu | 已售出 | |||
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KLA-CS20R表面缺陷检测仪 | KLA | CS20R | - | 设备完整不缺件,现货在浙江;20001938 | 国内 | |||
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KLA-2132表面缺陷检测仪 | KLA | 2132 | - | 设备完整不缺件,现货在浙江;20001176 | 国内 | |||
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KLA-FLX2908缺陷检测设备 | KLA | FLX2908 | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-8620晶圆检测系统 | KLA | 8620 | - | 12"设备完整不缺件,有2台现货; | 国外 | |||
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KLA-2350晶圆检测设备 | KLA | 2350 | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-9MD83SR Ⅱ光掩模版检测仪 | KLA | 9MD83SR Ⅱ | - | 设备完整不缺件,现货在山东;20000670 | 国内 | |||
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KLA-CSX0粒子缺陷检测仪 | KLA | CSX0 | - | 设备完整不缺件,现货在山东;20000621 | 国内 | |||
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KLA -P10/P11台阶仪 | KLA | P10/P11 | - | 设备完整不缺件,现货在山东;20000419 | 国内 | |||
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KLA -P10/P11台阶仪 | KLA | P10/P11 | - | 设备完整不缺件,现货在山东;20001090 | 国内 | |||
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KLA -P10/P11台阶仪 | KLA | P10/P11 | - | 设备完整不缺件,现货在山东;20000418 | 国内 | |||
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KLA- UV-1050薄膜测量系统 | KLA | UV-1050 | - | 设备完整不缺件,有4台现货; | 国外 | |||
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KLA-5200+电子束缺陷检查设备 | KLA | 5200+ | - | 设备完整不缺件,无硬盘; | 国内 | |||
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KLA-CS2薄膜测量 | KLA | CS2 | - | - | 国内 | |||
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KLA-5200XP量测设备 | KLA | 5200XP | - | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-8520表面缺陷检测系统 | KLA | 8520 | 2022 | 设备完整不缺件,在欧洲含拆卸+搬迁+装箱,不含运输和CCIC; | 国外 | |||
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KLA-CS10表面分析仪 | KLA | CS10 | - | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-Archer叠加测量系统 | KLA | Archer | - | 设备完整不缺件;10300187 | 国内 | |||
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KLA-CS20表面分析仪 | KLA | CS20 | - | 设备完整不缺件;30100053 | 国内 | |||
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KLA-FLX-2320晶圆弯曲和晶圆应力测量 | KLA | FLX-2320 | - | 设备完整不缺件;30100059 | 国内 | |||
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KLA-FLX-2908晶圆弯曲和晶圆应力测量 | KLA | FLX-2908 | - | 设备完整不缺件;30100007 | 国内 | |||
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KLA-P-11平面测量台阶仪 | KLA | P-11 | - | 设备完整不缺件;10300207 | 国内 | |||
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KLA-P-11测量仪 | KLA | P-11 | - | 设备完整不缺件;10300017 | 国内 | |||
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KLA-RS35四点探针电阻率测绘仪 | KLA | RS35 | - | 设备完整不缺件;10300208 | 国内 | |||
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KLA-RS55四点探针电阻率测绘仪 | KLA | RS55 | - | 设备完整不缺件;10300205 | 国内 | |||
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KLA-SFS-6200晶圆光学自动缺陷检测设备 | KLA | SFS-6200 | - | 设备完整不缺件;30100107 | 国内 | |||
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KLA-SFS-6200晶圆检测系统 | KLA | SFS-6200 | - | 设备完整不缺件;30100083 | 国内 | |||
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KLA-TP500热波检测仪 | KLA | TP500 | 1997 | 6"8"设备完整不缺件,有2台现货,已翻新好; | 国内 | |||
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KLA-AIT Ⅱ-I缺陷检查仪 | KLA | AIT Ⅱ-I | 2001 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-2133缺陷检查设备 | KLA | 2133 | 2011 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-2132缺陷检测设备 | KLA | 2132 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-CRS1010缺陷检查仪 | KLA | CRS1010 | 1995/1996 | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA-AIT-8010缺陷检查仪 | KLA | AIT-8010 | 1998 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-SFS-7700颗粒测试仪 | KLA | SFS-7700 | 1995*2 | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA-SFS-7600颗粒测试仪 | KLA | SFS-7600 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-SFS-7600M颗粒测试仪 | KLA | SFS-7600M | 1994/1995 | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA-RS55方阻测试仪 | KLA | RS55 | 2000 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 已售出 | |||
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KLA-VP10E阻值测试仪 | KLA | VP10E | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-VP10阻值测试仪 | KLA | VP10 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-Mgage300阻值测试仪 | KLA | Mgage300 | 1993 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA-2552缺陷数据分析处理仪 | KLA | 2552 | - | As-is | 国外 | |||
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KLA-FX200薄膜量测 | KLA | FX200 | 2008 | 设备完整不缺件,在新加坡; | 国外 | |||
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KLA-Viper2435晶圆检测设备 | KLA | Viper2435 | 2006 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-Viper-2438晶圆检测设备 | KLA | Viper-2438 | 2008 | - | 国外 | |||
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KLA-FX200薄膜量测 | KLA | FX200 | 2006 | [Power-on] 2port(TDK), Yaskawa(Al | 国外 | |||
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KLA-CRS1010晶圆载台控制器 | KLA | CRS1010 | 1998 | Microscope | 国外 | |||
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KLA-Polylite 88薄膜测量系统 | KLA | Polylite 88 | - | - | 国外 | |||
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KLA-ES31晶圆检查系统 | KLA | ES31 | 2004 | E-beam Inspection / SEMs in Micro | 国外 | |||
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KLA-DP2缺陷检测设备 | KLA | DP2 | 2012 | DP2 Data Prep Station | 国外 | |||
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KLA-8920i晶圆检测设备 | KLA | 8920i | 2022 | 设备完整不缺件; 全新机280-400万美元(2000-2860 |
已售出 | |||
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KLA-8935i晶圆检测设备 | KLA | 8935i | 2022 | 设备完整不缺件; 全新机350-550万美元(2500-3930 |
已售出 | |||
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KLA-2132缺陷检测设备 | KLA | 2132 | 1996 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-P170探针式表面检测仪 | KLA | P170 | 2022 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA-NANOMAPPER表面轮廓仪 | KLA | NANOMAPPER | 2006 | [As-is] 2x Open Foup type, Kensin | 国外 | |||
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KLA-HRP-340表面轮廓测量系统 | KLA | HRP-340 | 2004 | 2port(Asyst ISO port), stage lock | 国外 | |||
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KLA-EDR-5210电子束缺陷再检测 | KLA | EDR-5210 | 2010 | 2x Load port( Brooks, Brooks Robo | 国外 | |||
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KLA-Puma-9130晶圆检测系统 | KLA | Puma-9130 | 2005 | [As-is] 2ea*Loadport(Asyst), PRI | 已售出 | |||
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KLA-Puma-9000晶圆检测系统 | KLA | Puma-9000 | 2005 | [As-is] Handler missing, Dell pow | 国外 | |||
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KLA-WI-2280晶圆检测机台 | KLA | WI-2280 | - | - | 国外 | |||
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KLA-AIT UV晶圆检测设备 | KLA | AIT UV | 2003 | - | 国外 | |||
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KLA-CS10V表面分析仪 | KLA | CS10V | 2012 | 设备完整不缺件,单激光紫光405nm; | 国外 | |||
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KLA-2110晶片制程缺陷检测机 | KLA | 2110 | - | 设备完整不缺件,现货在湖南;20002554 | 国内 | |||
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KLA-2110晶片制程缺陷检测机 | KLA | 2110 | - | 设备完整不缺件,现货在湖南;20004104 | 国内 | |||
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KLA-CRS-1010S缺陷检测机 | KLA | CRS-1010S | - | 设备完整不缺件,现货在湖南;20004079 | 国内 | |||
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KLA-CRS-1010S缺陷检测机 | KLA | CRS-1010S | - | 设备完整不缺件,现货在湖南;20004078 | 国内 | |||
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KLA-CRS-1010S缺陷检测机 | KLA | CRS-1010S | - | 设备完整不缺件,现货在湖南;20004056 | 国内 | |||
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KLA-CRS-1010S缺陷检测机 | KLA | CRS-1010S | - | 设备完整不缺件,现货在湖南;20002463 | 国内 | |||
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KLA-ALPHA Step 200膜厚测试仪 | KLA | ALPHA Step 200 | - | 设备完整不缺件,现货在湖南;40000016 | 国内 | |||
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KLA-Archer 300+AIM光学测量设备 | KLA | Archer 300+AIM | 2013 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-F20薄膜测厚仪 | KLA | F20 | 2023 | 设备完整不缺件,国内在线热机; | 国内 | |||
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KLA-HRP240轮廓仪 | KLA | HRP240 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-SpectraCD 200散射仪 | KLA | SpectraCD 200 | 2004 | 8"设备完整不缺件200mm; | 国外 | |||
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KLA-2139缺陷检测设备 | KLA | 2139 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-P-10轮廓仪 | KLA | P-10 | 1999 | 设备完整不缺件,国内在线热机; | 国内 | |||
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KLA-Archer 300套刻测量系统 | KLA | Archer 300 | 2011 | 12"设备完整不缺件300mm; | 国外 | |||
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KLA-8520表面缺陷检测系统 | KLA | 8520 | 2020 | 6"设备完整不缺件; | 已售出 | |||
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KLA-AIT晶圆缺陷检测仪 | KLA | AIT | - | 设备完整不缺件;10300074 | 国内 | |||
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KLA -SPECTRAFX 100光谱椭偏仪 | KLA | SPECTRAFX 100 | 2006 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-SFS-6420晶圆检测系统 | KLA | SFS-6420 | 1995 | 设备完整不缺件,国内在线热机; | 国内 | |||
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KLA-Aleris CX晶圆检测系统 | KLA | Aleris CX | 2007 | [As-is] 2*loadport(TDK TAS300), Y | 国外 | |||
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KLA-Surfscan 2.1晶圆检测系统 | KLA | Surfscan 2.1 | - | - | 国外 | |||
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KLA-MPV CD2 AMC检测设备 | KLA | MPV CD2 AMC | - | - | 国外 | |||
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KLA-MPV-CD尺寸量测设备 | KLA | MPV-CD | - | - | 国外 | |||
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KLA-SFS7700颗粒测试仪设备 | KLA | SFS7700 | - | - | 国外 | |||
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KLA-Ergolux表面轮廓仪 | KLA | Ergolux | - | - | 国外 | |||
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KLA-INM100+INS10显微镜 | KLA | INM100+INS10 | - | - | 国外 | |||
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KLA-CI-T53P检测设备 | KLA | CI-T53P | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA-ICOS T830光学检测系统 | KLA | ICOS T830 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 已售出 | |||
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KLA-CS20表面分析仪 | KLA | CS20 | 2011 | 4-8"设备完整不缺件; 卡盘尺寸：3.7" 光学头组件： |
国外 | |||
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KLA-AT500激光跟踪仪 | KLA | AT500 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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| 二手半导体设备买卖+翻新 龙先生18868521984(微) |
| 注：设备状态不定期更新，是否已售出请咨询。 |
