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| 图 片 | 设备名称 | 制造商 | 型号 | 年份 | 详细配置 | 状 态 | |||
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KLA EDR-7380缺陷检测设备 | KLA | EDR-7380 | - | 12"设备完整不缺件,300mm在线热机; | 国外 | |||
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KLA STARLIGHT301(300SL)测量设备 | KLA | STARLIGHT301(300SL) | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA SCD-XT测量设备 | KLA | SCD-XT | - | 12"设备完整不缺件,有3台现货; | 国外 | |||
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KLA Archer A300 AIM测量设备 | KLA | Archer A300 AIM | 2010 | 设备完整不缺件,日本仓库中; | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | 2007/2012 | 设备完整不缺件,有2台现货,安装调试+质保6个月; | 国内 | |||
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KLA ES31量测设备 | KLA | ES31 | - | 300mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA 2131缺陷检测设备 | KLA | 2131 | - | 150mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA FLX2908晶圆表面检测设备 | KLA | FLX2908 | - | 150mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Tencor SFS4500颗粒检测系统 | KLA | SFS-4500 | - | 150mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA AWUS3110晶圆探针台 | KLA | AWUS3110 | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA UV1250SE薄膜测量系统 | KLA | UV-1250SE | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA AIT-3缺陷检测系统 | KLA | AIT-3 | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA 2139缺陷检测设备 | KLA | 2139 | - | 200mm设备完整不缺件,设备状态差; | 国外 | |||
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KLA ARCHER 10套刻精度测量设备 | KLA | ARCHER 10 | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA 2131缺陷检测设备 | KLA | 2131 | - | 150mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Tencor 8520表面缺陷检测系统 | KLA | 8520 | 2022 | 6"设备完整不缺件,3线/230伏/20安培/50/60赫兹,晶圆 | 国外 | |||
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KLA 2401缺陷检测设备 | KLA | 2401 | - | 200mm设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA SF27缺陷检测 | KLA | SF27 | - | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA Tencor CS20表面分析仪 | KLA | CS20 | 2010 | 设备完整不缺件,安装调试+质保6个月,费用加25万元; | 国内 | |||
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KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 | KLA | Leica INS3300 | 2015 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | 2011 | 设备完整不缺件,在线热机,晶圆片300mm; | 国外 | |||
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KLA Tencor 8420表面缺陷检测系统 | KLA | 8420 | 2020 | 6"设备完整不缺件,20年入厂,设备九成新以上,目前在湖南仓库中, | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 | KLA | SFS-6220 | 1997 | 2016年翻新,激光器于2020年3月更换,最后一次PM于2023 | 国外 | |||
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KLA P15台阶仪 | KLA | P15 | - | 设备完整不缺件,质保3月加3万元; | 国内 | |||
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KLA RS55方阻测试仪 | KLA | RS55 | 2000 | 设备完整不缺件,有2台现货(有台缺件,打包卖+20W); | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 | KLA | SFS-6420 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国外 | |||
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KLA 2132缺陷检测设备 | KLA | 2132 | 1996 | 设备完整不缺件,安装调试加70W左右,备件成本太高; | 国内 | |||
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KLA 2135缺陷检测设备 | KLA | 2135 | 1998 | 在线热机,设备完整不缺件,安装调试加10W; | 国内 | |||
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KLA Tencor CS10 R表面分析仪 | KLA | CS10 R | - | - | 国外 | |||
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KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 | KLA | SFS-6420 | 2007 | - | 国外 | |||
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KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 | KLA | 8720 | 2017 | 设备完整不缺件,在线热机在亚洲; | 国外 | |||
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KLA Tencor 8620表面晶圆检测系统 | KLA | 8620 | - | 设备完整不缺件,目前在欧洲; | 国外 | |||
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KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 | KLA | SFS-6200 | 1995 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 | KLA | 8720 | 2007 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | 2007 | TBI翻新掩模和晶圆检测,300/200mm x 3个端口,设备在 | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | 2001 | 设备缺件; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 | KLA | SFS-6420 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA Tencor UV1280SE薄膜测量系统 | KLA | UV-1280SE | 2001 | 用途：薄膜测量系统 型号：UV1280SE 出厂日期：2001 |
国外 | |||
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KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | 已翻新; | 国外 | |||
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KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 | KLA | UV1280SE | 2000 | 已翻修完无缺件,可验机保固3个月; | 国内 | |||
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KLA Leica INS3000侧扫声纳 | KLA | INS3000 | 1999 | 有2台,月底卖掉.. | 国外 | |||
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KLA Tencor RS75薄膜测量系统 | KLA | RS-75 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 | KLA | SFS-6220 | - | 设备完整不缺件,正运回中国; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS6400晶圆检测设备 | KLA | SFS-6400 | 1994 | 竞标中.. | 国外 | |||
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KLA Tencor SFS7700缺陷测试仪 | KLA | SFS-7700 | 1997 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 | KLA | SFS-6220 | 2001 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 | KLA | SFS-6200 | 1992 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS4500颗粒检测仪 | KLA | SFS-4500 | - | 4" | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 | KLA | SP3 | 2014 | 在线热机,2月份拆机; | 国外 | |||
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KLA Therma-wave OP2600膜厚测量设备 | KLA | OP2600 | 1997 | 设备完整不缺件,已翻新; Fully refurbished s |
国外 | |||
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KLA Therma-wave OP5240膜厚测量设备 | KLA | OP5240 | 2000 | 设备完整不缺件,已翻新; Fully refurbished s |
国外 | |||
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KLA 2131缺陷检测设备 | KLA | 2131 | - | 8"设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS4500颗粒检测系统 | KLA | SFS-4500 | - | 6"设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA Surfscan SP5晶圆缺陷检测 | KLA | Surfscan SP5 | - | 设备完整不缺件; | 已售出 | |||
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KLA UV-1050膜厚测量仪 | KLA | UV-1050 | - | 6-8"设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA FT-750膜厚测量仪 | KLA | FT-750 | - | 6-8"设备完整不缺件,有3台现货; | 国内 | |||
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KLA 2133缺陷检测设备 | KLA | 2133 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国外 | |||
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KLA Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA | Kevex 7600 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA | Kevex 7600 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA Viper 2401缺陷测试仪 | KLA | Viper 2401 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS7700缺陷测试仪 | KLA | SFS-7700 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA AIT 1缺陷测试仪 | KLA | AIT 1 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA Kevex 7600颗粒测试仪 | KLA | Kevex 7600 | - | 6"备件机; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 | KLA | SFS-6200 | - | 6"设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA Aleris 8350薄膜量测系统 | KLA | Aleris 8350 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA UV1250SE薄膜测量系统 | KLA | UV1250SE | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA OP2600膜厚仪 | KLA | OP2600 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 | KLA | 8720 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Viper2430晶圆检测设备 | KLA | Viper2430 | 2006 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 | KLA | Tencor 8720 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国外 | |||
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KLA Tencor CS10表面分析仪 | KLA | CS10 | 2006 | 设备完整不缺件,现货热机,可安装调试; | 国内 | |||
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KLA CI-T130 lead scanner扫脚机 | KLA | CI-T130 | - | 4 | 国外 | |||
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KLA CI-T830 lead scanner扫脚机 | KLA | CI-T830 | - | 1 | 国外 | |||
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KLA IVC-1600工业相机 | KLA | IVC-1600 | - | 2 | 国外 | |||
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KLA Industrial Camera工业相机 | KLA | IVC-2000 | - | 2 | 国外 | |||
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KLA IVC-4000缺陷检测设备 | KLA | IVC-4000 | - | 1 | 国外 | |||
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KLA-Tencor (ICOS) CD测量 | KLA | Manual | - | 1 | 国外 | |||
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KLA-Tencor (ICOS) CD测量 | KLA | ICOS6100_7.6 | - | 1 | 国外 | |||
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KLA FLX-5400 Flexus晶圆翘曲度测量仪 | KLA | FLX-5400 | 2015-02-01 | 已打包 | 国外 | |||
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KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 | KLA | SFS-6220 | 1999 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP3(上料机构) | KLA | SP3 | 2012.3 | 上料机构; | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 | KLA | SP2 | 2011 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA UV-1050薄膜测量系统 | KLA | UV-1050 | 1996.5 | 200mm As-Is, Where-Is;含软件及硬盘 | 国外 | |||
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KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 | KLA | Leica INS3300 | 2002.8 | 300mm As-Is, Where-Is;不含硬盘 | 国外 | |||
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KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 | KLA | Leica INS3300 | 2005.2 | 300mm,Where-Is,不含硬盘; | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | Equipment Make: KLA-Tencor Equ |
国外 | |||
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KLA 2138缺陷检测设备 | KLA | 2138 | - | 设备完整不缺件,有4台现货; | 国外 | |||
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KLA RS75方阻测试仪 | KLA | RS75 | 2000 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA Leica INM300金相显微镜 | KLA | INM300 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA P-15单向节流阀 | KLA | P-15 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA PHX DF 5.0缺陷检测设备 | KLA | PHX DF 5.0 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA Ultrascan 9300掩模版检测设备 | KLA | Ultrascan-9300 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA Ultrascan 9000光测量系统 | KLA | Ultrascan-9000 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA AFS-3220晶圆缺陷检测 | KLA | AFS-3220 | - | 8 As-is | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 | KLA | SP3 | - | 设备完整不缺件,含序列号; | 国内 | |||
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KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Acrotec 6020晶圆缺陷检测设备 | KLA | Acrotec-6020 | - | Inspection system/PC/HDD. | 国外 | |||
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KLA 8935-FFC AOI晶圆检测设备 | KLA | 8935-FFC | 2022 | 设备完整不缺件; 全新机420-650万美元(3000-4650 |
已售出 | |||
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KLA Tencor UV 1280SE薄膜测量系统 | KLA | UV-1280SE | 2000 | Film Thickness Measurement | 国外 | |||
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KLA Filmetrics F20薄膜测厚仪 | KLA | F20 | 2021 | Thickness Measurement | 国外 | |||
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KLA ADE 9500晶圆计量与检测设备 | KLA | ADE-9500 | - | Multifunctional measurement | 国外 | |||
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KLA Tencor M-Gage 300薄膜电阻测量设备 | KLA | M-Gage 300 | 2001 | Al Thickness measurement 8寸 | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | - | 有2台; | 国外 | |||
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KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 | KLA | SP1-TBI | 2000 | Kla-tencor One Technology Driveu | 已售出 | |||
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KLA FLX2908缺陷检测设备 | KLA | FLX2908 | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Tencor 8620晶圆检测系统 | KLA | 8620 | - | 12"设备完整不缺件,有2台现货; | 国外 | |||
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KLA 2350晶圆检测设备 | KLA | 2350 | - | 8"设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA UV-1050薄膜测量系统 | KLA | UV-1050 | - | 设备完整不缺件,有4台现货; | 国外 | |||
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KLA EDR 5200+电子束缺陷检查设备 | KLA | 5200+ | - | 设备完整不缺件,无硬盘; | 国内 | |||
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KLA Tencor CS2薄膜测量 | KLA | CS2 | - | - | 国内 | |||
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KLA 5200XP量测设备 | KLA | 5200XP | - | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA AIT Ⅱ缺陷检测仪 | KLA | AIT Ⅱ | 1999 | METROLOGY | 国外 | |||
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KLA TP500热波检测仪 | KLA | TP500 | 1997 | 设备完整不缺件,有2台现货,已翻新好; | 国内 | |||
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KLA EDR 5210S晶圆缺陷检查系统 | KLA | EDR-5210S | 2011 | METROLOGY | 国外 | |||
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KLA Tencor UV 1280SE薄膜测量系统 | KLA科磊 | UV-1280SE | 2003 | METROLOGY | 国外 | |||
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KLA AIT II-I缺陷检查仪 | KLA | AIT II-I | 2001 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA 2133缺陷检查设备 | KLA | 2133 | 2011 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA 2132缺陷检测设备 | KLA | 2132 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA CRS1010缺陷检查仪 | KLA | CRS1010 | 1995/1996 | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA Tencor AIT 8010缺陷检查仪 | KLA | AIT-8010 | 1998 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS7700颗粒测试仪 | KLA | SFS-7700 | 1995*2 | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS7600颗粒测试仪 | KLA | SFS-7600 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA Tencor SFS7600M颗粒测试仪 | KLA | SFS-7600M | 1994/1995 | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国内 | |||
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KLA RS55方阻测试仪 | KLA | RS55 | 2000 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 已售出 | |||
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KLA Tencor VP10E阻值测试仪 | KLA | VP10E | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA Tencor VP10阻值测试仪 | KLA | VP10 | 1995 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA Tencor Mgage300阻值测试仪 | KLA | Mgage300 | 1993 | 设备完整不缺件,有1台现货; | 国内 | |||
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KLA Tencor 2552缺陷数据分析处理仪 | KLA | 2552 | - | As-is | 国外 | |||
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KLA Spectra FX200薄膜量测 | KLA | FX200 | 2008 | 设备完整不缺件,在新加坡; | 国外 | |||
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KLA Viper2435晶圆检测设备 | KLA | Viper2435 | 2006 | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA Viper 2438晶圆检测设备 | KLA | Viper-2438 | 2008 | - | 国外 | |||
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KLA Spectra FX200薄膜量测 | KLA | FX200 | 2006 | [Power-on] 2port(TDK), Yaskawa(Al | 国外 | |||
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KLA CRS1010晶圆载台控制器 | KLA | CRS1010 | 1998 | Microscope | 国外 | |||
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KLA Polylite 88薄膜测量系统 | KLA | Polylite 88 | - | - | 国外 | |||
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KLA Viper 2438晶圆检测设备-重 | KLA | Viper-2438 | 2010 | - | 国外 | |||
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KLA Tencor ES31晶圆检查系统 | KLA | ES31 | 2004 | E-beam Inspection / SEMs in Micro | 国外 | |||
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KLA DP2缺陷检测设备 | KLA | DP2 | 2012 | DP2 Data Prep Station | 国外 | |||
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KLA 8920i AOI晶圆检测设备 | KLA | 8920i | 2022 | 设备完整不缺件; 全新机280-400万美元(2000-2860 |
已售出 | |||
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KLA 8935i AOI晶圆检测设备 | KLA | 8935i | 2022 | 设备完整不缺件; 全新机350-550万美元(2500-3930 |
已售出 | |||
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KLA 2132缺陷检测设备 | KLA | 2132 | 1996 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA P170探针式表面检测仪 | KLA | P170 | 2022 | 设备完整不缺件; | 国内 | |||
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KLA NANOMAPPER表面轮廓仪 | KLA | NANOMAPPER | 2006 | [As-is] 2x Open Foup type, Kensin | 国外 | |||
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KLA HRP-340表面轮廓测量系统 | KLA | HRP-340 | 2004 | 2port(Asyst ISO port), stage lock | 国外 | |||
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KLA EDR-5210电子束缺陷再检测 | KLA | EDR-5210 | 2010 | 2x Load port( Brooks, Brooks Robo | 国外 | |||
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KLA EDR-5210电子束缺陷再检测-重 | KLA | EDR-5210 | 2010 | 2xLoad port(Brooks FixLoad), Robo | 国外 | |||
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KLA Puma 9130晶圆检测系统 | KLA | Puma-9130 | 2005 | [As-is] 2ea*Loadport(Asyst), PRI | 已售出 | |||
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KLA Puma 9000晶圆检测系统 | KLA | Puma-9000 | 2005 | [As-is] Handler missing, Dell pow | 国外 | |||
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KLA WI2280晶圆检测机台 | KLA | WI-2280 | - | - | 国外 | |||
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KLA WI-2280晶圆检测机台-重 | KLA | WI-2280 | - | - | 国外 | |||
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KLA AIT UV晶圆检测设备 | KLA | AIT UV | 2003 | - | 国外 | |||
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KLA Puma 9000晶圆检测系统-重 | KLA | Puma-9000 | 2005 | [Semi power-on] 2port(Asyst ISO p | 国外 | |||
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KLA Puma 9000晶圆检测系统-重 | KLA | Puma-9000 | 2005 | [As-is] 2ea*Loadport(Phoenix), Ya | 国外 | |||
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KLA Aleris CX晶圆检测系统 | KLA | Aleris CX | 2007 | [As-is] 2*loadport(TDK TAS300), Y | 国外 | |||
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KLA Surfscan 2.1晶圆检测系统 | KLA | Surfscan 2.1 | - | - | 国外 | |||
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KLA MPV CD2 AMC检测设备 | KLA | MPV CD2 AMC | - | - | 国外 | |||
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KLA MPV CD2 AMC检测设备-重 | KLA | MPV CD2 AMC | - | - | 国外 | |||
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KLA MPV-CD尺寸量测设备 | KLA | MPV-CD | - | - | 国外 | |||
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KLA SFS7700颗粒测试仪设备 | KLA | SFS7700 | - | - | 国外 | |||
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KLA Ergolux表面轮廓仪 | KLA | Ergolux | - | - | 国外 | |||
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KLA INM100+INS10显微镜 | KLA | INM100+INS10 | - | - | 国外 | |||
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KLA CI-T53P检测设备 | KLA | CI-T53P | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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KLA ICOS T830光学检测系统 | KLA | ICOS T830 | - | 设备完整不缺件,有2台现货; | 国外 | |||
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KLA Tencor CS20表面分析仪 | KLA | CS20 | 2011 | 4-8"设备完整不缺件; 卡盘尺寸：3.7" 光学头组件： |
国外 | |||
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KLA Leica AT500激光跟踪仪 | KLA | AT500 | - | 设备完整不缺件; | 国外 | |||
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| 二手半导体设备买卖+翻新 龙先生18868521984(微) |
| 注：设备状态不定期更新，是否已售出请咨询。 |
