|
| ID |
设备名称 |
年份 |
详细配置 |
状 态 |
| 2797 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
2011 |
设备完整不缺件; |
国外
|
| 2355 |
KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 |
- |
设备完整不缺件,含序列号; |
国内
|
| 4194 |
KLA SF27缺陷检测 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 4190 |
KLA candela CS20表面分析仪 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 3974 |
KLA 2132缺陷检测 |
1996 |
设备完整不缺件,安装调试加70W左右 |
国内
|
| 3778 |
KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 |
2001 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 3846 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
2001 |
设备完整不缺件,在线热机; |
国内
|
| 3973 |
KLA 2135缺陷检测 |
1998 |
在线热机,设备完整不缺件; |
国内
|
| 1662 |
KLA TP500热波信号测量 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 3976 |
KLA RS55方阻测试仪 |
- |
设备完整不缺件,有现货2台(有台缺件 |
国内
|
| 3977 |
KLA P15轮廓仪 |
- |
设备完整不缺件,有现货1台; |
国内
|
| 1955 |
KLA EDR 5200+电子束缺陷检查设备 |
- |
设备完整不缺件,无硬盘; |
国内
|
| 3832 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测 |
1995 |
设备完整不缺件,有现货1台; |
国内
|
| 3894 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
2017 |
设备完整不缺件,在线热机在亚洲; |
国外
|
| 4176 |
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
2015 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 2148 |
KLA 2350晶圆检测设备 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 2151 |
KLA FLX2908缺陷检测设备 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国外
|
| 2149 |
KLA Tencor 8620晶圆检测系统 |
- |
12"设备完整不缺件,有2台现货; |
国外
|
| 4163 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
2011 |
设备完整不缺件,在线热机,晶圆片30 |
国外
|
| 4158 |
KLA Candela 8420表面缺陷检测系统 |
2020 |
设备完整不缺件,20年入厂,设备九成 |
国内
|
| 4148 |
KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 |
1997 |
2016年翻新,激光器于2020年3 |
国外
|
| 3975 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测 |
1995 |
设备完整不缺件,有现货1台; |
国外
|
| 3896 |
KLA Tencor CS10 R表面分析仪 |
- |
- |
国外
|
| 3895 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测 |
2007 |
- |
国外
|
| 3888 |
KLA Tencor 8620晶圆检测系统 |
- |
- |
国外
|
| 3886 |
KLA SURFSCAN SFS6200晶圆检测系统 |
1994 |
8"设备完整不缺件,已翻新好在美国; |
国外
|
| 3857 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
2017 |
美国在线热机,用于4英寸和6英寸; |
国外
|
| 3847 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
2007 |
TBI翻新掩模和晶圆检测,300/2 |
国外
|
| 3828 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 |
2001 |
用途：薄膜测量系统
型号：UV12 |
国外
|
| 3826 |
KLA Surfscan SP1 TBI颗粒测量仪 |
- |
已翻新; |
国外
|
| 3808 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 |
2000 |
已翻修完无缺件,可验机保固3个月; |
国内
|
| 3804 |
KLA Leica INS3000侧扫声纳 |
1999 |
有2台,月底卖掉.. |
国外
|
| 3803 |
KLA Tencor RS-75薄膜测量系统 |
- |
- |
国外
|
| 3800 |
KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 |
2000 |
竞标中.. |
国外
|
| 3799 |
KLA Tencor 6400晶圆检测设备 |
1994 |
竞标中.. |
国外
|
| 3782 |
KLA Tencor 7700缺陷测试仪 |
1997 |
- |
国外
|
| 3777 |
KLA SURFSCAN SFS6200晶圆检测系统 |
1995 |
The Surfscan 6200 |
国外
|
| 3776 |
KLA SURFSCAN 4500颗粒检测仪 |
- |
4" |
国外
|
| 3775 |
KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 |
2014 |
在线热机,2月份拆机; |
国外
|
| 3514 |
KLA 2131缺陷测试仪 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3509 |
KLA AIT 1缺陷测试仪 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3508 |
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3511 |
KLA Viper 2401缺陷测试仪 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3512 |
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3513 |
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 3510 |
KLA Tencor 7700缺陷测试仪 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 2860 |
KLA-Tencor (ICOS) CD测量 |
- |
1 |
国外
|
| 2868 |
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 |
- |
2 |
国外
|
| 2805 |
KLA SURFSCAN SFS6220颗粒检测仪 |
2015-02-01 |
已打包 |
国外
|
| 2859 |
KLA-Tencor (ICOS) CD测量 |
- |
1 |
国外
|
| 2869 |
KLA CI-T130 lead scanner扫脚机 |
- |
1 |
国外
|
| 2861 |
KLA IVC-4000缺陷检测设备 |
- |
1 |
国外
|
| 2862 |
KLA Industrial Camera工业相机 |
- |
2 |
国外
|
| 2863 |
KLA Industrial Camera工业相机 |
- |
2 |
国外
|
| 2864 |
KLA CI-T830 Lead scanner扫脚机 |
- |
1 |
国外
|
| 2865 |
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 |
- |
4 |
国外
|
| 2866 |
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 |
- |
1 |
国外
|
| 2867 |
KLA CI-T130 Lead scanner扫脚机 |
- |
3 |
国外
|
| 2806 |
KLA FLX-5400 Flexus晶圆翘曲度测量仪 |
2015-02-01 |
已打包 |
国外
|
| 2804 |
KLA Surfscan SP3(上料机构) |
2012.3 |
上料机构; |
国外
|
| 2777 |
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
2002.8 |
300mm As-Is, Where |
国外
|
| 2776 |
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
2005.2 |
300mm,Where-Is,不含硬 |
国外
|
| 2789 |
KLA UV-1050薄膜测量系统 |
1996.5 |
200mm As-Is, Where |
国外
|
| 2767 |
KLA Surfscan SP1 TBI颗粒测量仪 |
- |
Equipment Make: KL |
国外
|
| 2553 |
HITACHI KLA8100扫描电镜 |
- |
6"有1台; |
已售
|
| 2552 |
KLA 2131缺陷检测设备 |
- |
6"有1台; |
已售
|
| 2354 |
KLA Surfscan SP1 DLS晶圆检测仪 |
- |
6-12 As-is |
国外
|
| 2356 |
KLA AFS-3220晶圆缺陷检测 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2357 |
KLA Ultrascan 9000光测量系统 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2358 |
KLA Ultrascan 9300掩模版检测设备 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2359 |
KLA PHX DF 5.0缺陷检测设备 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2360 |
KLA P-15单向节流阀 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2361 |
KLA Leica INM300金相显微镜 |
- |
8 As-is |
国外
|
| 2320 |
KLA ACROTEC6020晶圆缺陷检测设备 |
- |
Inspection system/ |
国外
|
| 2310 |
KLA Filmetrics F20薄膜测厚仪 |
2021 |
Thickness Measurem |
国外
|
| 2304 |
KLA ADE 9500晶圆计量与检测设备 |
- |
Multifunctional me |
国外
|
| 2291 |
KLA-Tencor M-Gage 300薄膜电阻测量设备 |
2001 |
Al Thickness measu |
国外
|
| 2311 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 |
2000 |
Film Thickness Mea |
国外
|
| 2284 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
- |
有两台 |
国外
|
| 2256 |
KLA Surfscan SP1 TBI晶圆检测系统 |
2000 |
Kla-tencor One Tec |
已售
|
| 1952 |
KLA CANDELA CS2薄膜测量 |
- |
- |
国内
|
| 70 |
KLA Leica AT500激光跟踪仪 |
- |
1 SET |
国外
|
| 371 |
KLA ICOS T830测试系统 |
- |
1 SET |
国外
|
| 372 |
KLA CI-T53P检测设备 |
- |
1 SET |
国外
|
| 841 |
KLA Puma 9000晶圆检测系统 |
2005 |
[Semi power-on] 2p |
国外
|
| 823 |
KLA Puma 9000晶圆检测系统 |
2005 |
[As-is] 2ea*Loadpo |
国外
|
| 533 |
KLA Aleris CX晶圆检测系统 |
2007 |
[As-is] 2*loadport |
国外
|
| 483 |
KLA Surfscan 2.1晶圆检测系统 |
- |
- |
国外
|
| 960 |
KLA AIT UV晶圆检测设备 |
2003 |
- |
国外
|
| 481 |
KLA MPV CD2 AMC检测设备 |
- |
- |
国外
|
| 479 |
KLA MPV-CD尺寸量测设备 |
- |
- |
国外
|
| 478 |
KLA SFS7700颗粒测试仪设备 |
- |
- |
国外
|
| 477 |
KLA Ergolux表面轮廓仪 |
- |
- |
国外
|
| 476 |
KLA INM100+INS10显微镜 |
- |
- |
国外
|
| 1324 |
KLA Tencor ES31晶圆检查系统 |
2004 |
E-beam Inspection |
国外
|
| 961 |
KLA WI-2280晶圆检测机台 |
- |
- |
国外
|
| 482 |
KLA MPV CD2 AMC检测设备 |
- |
- |
国外
|
| 1370 |
KLA Polylite 88薄膜测量系统 |
- |
- |
国外
|
| 1663 |
KLA AIT Ⅱ缺陷检测仪 |
1999 |
METROLOGY |
国外
|
| 1661 |
KLA EDR-5210S晶圆缺陷检查系统 |
2011 |
METROLOGY |
国外
|
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