|
|
| 图 片 |
设备名称 |
制造商 |
型号 |
年份 |
详细配置 |
状 态 |
 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2007/2012 |
设备完整不缺件,有2台现货,安装调试+质 |
国内
|
 |
KLA SF27缺陷检测 |
KLA |
SF27 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA Tencor CS20表面分析仪 |
KLA |
CS20 |
2010 |
设备完整不缺件,安装调试+质保6个月,费 |
国内
|
 |
KLA Leica INS3300晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2015 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA Tencor 8420表面缺陷检测系统 |
KLA |
8420 |
2020 |
6"设备完整不缺件,20年入厂,设备九成 |
国内
|
 |
KLA P15台阶仪 |
KLA |
P15 |
- |
设备完整不缺件,质保3月加3万元; |
国内
|
 |
KLA RS55方阻测试仪 |
KLA |
RS55 |
2000 |
设备完整不缺件,有2台现货(有台缺件,打 |
国内
|
 |
KLA 2132缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件,安装调试加70W左右,备 |
国内
|
 |
KLA 2135缺陷检测设备 |
KLA |
2135 |
1998 |
在线热机,设备完整不缺件,安装调试加10 |
国内
|
 |
KLA Tencor 8720芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
2007 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA Surfscan SP2晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2001 |
设备缺件; |
国内
|
 |
KLA Tencor SFS6420晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
 |
KLA Tencor UV-1280SE薄膜测量系统 |
KLA |
UV1280SE |
2000 |
已翻修完无缺件,可验机保固3个月; |
国内
|
 |
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
- |
设备完整不缺件,正运回中国; |
国内
|
 |
KLA Tencor SFS6220颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
2001 |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
1992 |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA 2131缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS4500颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
6"设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
KLA UV-1050膜厚测量仪 |
KLA |
UV-1050 |
- |
6-8"设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA FT-750膜厚测量仪 |
KLA |
FT-750 |
- |
6-8"设备完整不缺件,有3台现货; |
国内
|
|
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Viper 2401缺陷测试仪 |
KLA |
Viper 2401 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS7700缺陷测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA AIT 1缺陷测试仪 |
KLA |
AIT 1 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Kevex 7600颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS6200晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
- |
6"设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA OP2600膜厚仪 |
KLA |
OP2600 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
 |
KLA Tencor CS10表面分析仪 |
KLA |
CS10 |
2006 |
设备完整不缺件,现货热机,可安装调试; |
国内
|
 |
KLA RS75方阻测试仪 |
KLA |
RS75 |
2000 |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA Surfscan SP3晶圆缺陷检测 |
KLA |
SP3 |
- |
设备完整不缺件,含序列号; |
国内
|
|
KLA EDR 5200+电子束缺陷检查设备 |
KLA |
5200+ |
- |
设备完整不缺件,无硬盘; |
国内
|
|
KLA Tencor CS2薄膜测量 |
KLA |
CS2 |
- |
- |
国内
|
|
KLA 5200XP量测设备 |
KLA |
5200XP |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
 |
KLA TP500热波检测仪 |
KLA |
TP500 |
1997 |
设备完整不缺件,有2台现货,已翻新好; |
国内
|
|
KLA AIT II-I缺陷检查仪 |
KLA |
AIT II-I |
2001 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA 2133缺陷检查设备 |
KLA |
2133 |
2011 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA 2132缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA CRS1010缺陷检查仪 |
KLA |
CRS1010 |
1995/1996 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor AIT 8010缺陷检查仪 |
KLA |
AIT-8010 |
1998 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS7700颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
1995*2 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS7600颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7600 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor SFS7600M颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7600M |
1994/1995 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor VP10E阻值测试仪 |
KLA |
VP10E |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor VP10阻值测试仪 |
KLA |
VP10 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
|
KLA Tencor Mgage300阻值测试仪 |
KLA |
Mgage300 |
1993 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
 |
KLA 2132缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件; |
国内
|
|
KLA P170探针式表面检测仪 |
KLA |
P170 |
2022 |
设备完整不缺件; |
国内
|
页次：
1
/ 1页 每页：100 设备数：48
9[1]: 总共有1页
|
|
|
二手半导体设备买卖-二手半导体设备翻新-二手半导体设备交易平台semi1688.com
|
| 二手半导体设备买卖+翻新 龙先生18868521984(微) |
| 注：设备状态不定期更新，是否已售出请咨询。 |
|
