| 日期-ID |
图 片 |
设备名称 |
制造商 |
型号 |
年份 |
详细配置 |
状 态 |
| 2026.8.27-2002 |
 |
台阶仪 |
KLA |
P10/P11 |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20001090 |
国内
|
| 2026.8.27-902 |
|
膜厚测试仪 |
KLA |
ALPHA Step 200 |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;40000016 |
国内
|
| 2026.8.27-907 |
|
缺陷检测机 |
KLA |
CRS-1010S |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20002463 |
国内
|
| 2026.8.27-908 |
|
缺陷检测机 |
KLA |
CRS-1010S |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20004056 |
国内
|
| 2026.8.27-909 |
|
缺陷检测机 |
KLA |
CRS-1010S |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20004078 |
国内
|
| 2026.8.27-910 |
|
缺陷检测机 |
KLA |
CRS-1010S |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20004079 |
国内
|
| 2026.8.27-912 |
|
晶片制程缺陷检测机 |
KLA |
2110 |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20004104 |
国内
|
| 2026.8.27-924 |
|
晶片制程缺陷检测机 |
KLA |
2110 |
- |
设备完整不缺件,现货在湖南;20002554 |
国内
|
| 2026.8.27-2001 |
|
台阶仪 |
KLA |
P10/P11 |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20000418 |
国内
|
| 2026.8.27-2003 |
|
台阶仪 |
KLA |
P10/P11 |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20000419 |
国内
|
| 2026.8.27-2004 |
|
粒子缺陷检测仪 |
KLA |
CSX0 |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20000621 |
国内
|
| 2026.8.27-2146 |
|
光掩模版检测仪 |
KLA |
9MD83SR Ⅱ |
- |
设备完整不缺件,现货在山东;20000670 |
国内
|
| 2026.8.27-2181 |
|
表面缺陷检测仪 |
KLA |
2132 |
- |
设备完整不缺件,现货在浙江;20001176 |
国内
|
| 2026.8.27-2188 |
|
表面缺陷检测仪 |
KLA |
CS20R |
- |
设备完整不缺件,现货在浙江;20001938 |
国内
|
| 2026.8.25-1798 |
|
表面分析仪 |
KLA |
CS20 |
- |
设备完整不缺件;30100053 |
国内
|
| 2026.8.25-682 |
|
晶圆缺陷检测仪 |
KLA |
AIT |
- |
设备完整不缺件;10300074 |
国内
|
| 2026.8.25-1764 |
|
晶圆弯曲和晶圆应力测量 |
KLA |
FLX-2908 |
- |
设备完整不缺件;30100007 |
国内
|
| 2026.8.25-1765 |
|
晶圆弯曲和晶圆应力测量 |
KLA |
FLX-2320 |
- |
设备完整不缺件;30100059 |
国内
|
| 2026.8.25-1725 |
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
- |
设备完整不缺件;30100083 |
国内
|
| 2026.8.25-1726 |
|
晶圆光学自动缺陷检测设备 |
KLA |
SFS-6200 |
- |
设备完整不缺件;30100107 |
国内
|
| 2026.8.25-1731 |
|
四点探针电阻率测绘仪 |
KLA |
RS55 |
- |
设备完整不缺件;10300205 |
国内
|
| 2026.8.25-1732 |
|
四点探针电阻率测绘仪 |
KLA |
RS35 |
- |
设备完整不缺件;10300208 |
国内
|
| 2026.8.25-1740 |
|
平面测量台阶仪 |
KLA |
P-11 |
- |
设备完整不缺件;10300207 |
国内
|
| 2026.8.25-1813 |
|
叠加测量系统 |
KLA |
Archer |
- |
设备完整不缺件;10300187 |
国内
|
| 2026.8.25-1739 |
|
测量仪 |
KLA |
P-11 |
- |
设备完整不缺件;10300017 |
国内
|
| 2026.8.22-805 |
|
薄膜测厚仪 |
KLA |
F20 |
2023 |
设备完整不缺件,国内在线热机; |
国内
|
| 2026.8.22-620 |
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,国内在线热机; |
国内
|
| 2026.8.22-778 |
|
轮廓仪 |
KLA |
P-10 |
1999 |
设备完整不缺件,国内在线热机; |
国内
|
| 2026.8.18-3305 |
|
膜厚测试仪 |
KLA |
UV-1050 |
- |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2026.8.18-2499 |
|
测试仪 |
KLA |
AS-500 |
- |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2026.8.18-3207 |
|
测试仪 |
KLA |
SMI3050(C/W) |
2004 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2026.8.11-3183 |
|
膜厚仪 |
KLA |
OP2600 |
- |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 2026.8.11-1921 |
|
量测设备 |
KLA |
5200XP |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 2026.8.1-2794 |
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
- |
设备完整不缺件,在线热机在江苏; |
国内
|
| 2026.6.18-1847 |
 |
表面分析仪 |
KLA |
CS10 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 2026.4.21-3774 |
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
1992 |
设备完整不缺件,安装调试+质保6个月,费用加25万元; |
国内
|
| 2026.4.9-3854 |
 |
芯片缺陷检测系统 |
KLA |
8720 |
2007 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 2026.4.2-2863 |
 |
表面分析仪 |
KLA |
CS10 |
2006 |
设备完整不缺件,现货热机,可安装调试; |
国内
|
| 2026.3.28-3638 |
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2131 |
- |
8"设备完整不缺件; |
国内
|
| 2026.3.28-3474 |
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6200 |
- |
6"设备完整不缺件; |
国内
|
| 2026.3.28-3635 |
|
颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-4500 |
- |
6"设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 2026.3.28-3623 |
|
膜厚测量仪 |
KLA |
UV-1050 |
- |
6-8"设备完整不缺件; |
国内
|
| 2026.3.28-3538 |
|
膜厚测量仪 |
KLA |
FT-750 |
- |
6-8"设备完整不缺件,有3台现货; |
国内
|
| 2026.3.28-1043 |
 |
缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 2026.3.17-3829 |
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SFS-6420 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2026.3.17-3969 |
 |
缺陷检测设备 |
KLA |
2135 |
1998 |
在线热机,设备完整不缺件,安装调试加10W; |
国内
|
| 2026.3.17-1662 |
 |
热波检测仪 |
KLA |
TP500 |
1997 |
6"8"设备完整不缺件,有2台现货,已翻新好; |
国内
|
| 2026.3.17-3972 |
 |
方阻测试仪 |
KLA |
RS55 |
2000 |
设备完整不缺件,有2台现货(有台缺件,打包卖+20W); |
国内
|
| 2026.3.17-3973 |
 |
台阶仪 |
KLA |
P15 |
2006 |
设备完整不缺件,质保3月加3万元; |
国内
|
| 2026.3.17-3970 |
 |
缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1996 |
设备完整不缺件,安装调试加70W左右,备件成本太高; |
国内
|
| 2026.1.7-4563 |
|
晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2007/2012 |
设备完整不缺件,有2台现货,安装调试+质保6个月; |
国内
|
| 2025.10.14-1548 |
|
阻值测试仪 |
KLA |
Mgage300 |
1993 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1549 |
|
阻值测试仪 |
KLA |
VP10 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1550 |
|
阻值测试仪 |
KLA |
VP10E |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1568 |
|
颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7600M |
1994/1995 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1569 |
|
颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7600 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1570 |
|
颗粒测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
1995*2 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1571 |
|
缺陷检查仪 |
KLA |
AIT-8010 |
1998 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1572 |
|
缺陷检查仪 |
KLA |
CRS1010 |
1995/1996 |
设备完整不缺件,有2台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1574 |
|
缺陷检测设备 |
KLA |
2132 |
1995 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1575 |
|
缺陷检查设备 |
KLA |
2133 |
2011 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2025.10.14-1576 |
|
缺陷检查仪 |
KLA |
AIT Ⅱ-I |
2001 |
设备完整不缺件,有1台现货; |
国内
|
| 2025.7.10-4152 |
 |
表面缺陷检测系统 |
KLA |
8420 |
2020 |
6"设备完整不缺件,20年入厂,设备九成新以上,目前在湖南仓库中,安装调试加20万元,质保 |
国内
|
| 2025.6.21-2355 |
|
晶圆缺陷检测 |
KLA |
SP3 |
- |
设备完整不缺件,含序列号; |
国内
|
| 2025.6.13-4187 |
 |
缺陷检测 |
KLA |
SF27 |
- |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 2025.6.4-4183 |
 |
表面分析仪 |
KLA |
CS20R |
2010 |
设备完整不缺件,安装调试+质保6个月,费用加25万元; |
国内
|
| 2025.4.23-3775 |
 |
颗粒检测系统 |
KLA |
SFS-6220 |
2001 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 2025.4.14-3843 |
 |
晶圆检测系统 |
KLA |
SP2 |
2001 |
设备缺件; |
国内
|
| 2025.3.16-1955 |
|
电子束缺陷检查设备 |
KLA |
5200+ |
- |
设备完整不缺件,无硬盘; |
国内
|
| 2025.3.3-4170 |
 |
晶圆缺陷检测 |
KLA |
Leica INS3300 |
2015 |
设备完整不缺件; |
国内
|
| 2024.2.20-3805 |
 |
薄膜测量系统 |
KLA |
UV1280SE |
2000 |
已翻修完无缺件,可验机保固3个月; |
国内
|
| 2023.12.27-3506 |
|
缺陷测试仪 |
KLA |
AIT 1 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 2023.12.27-3510 |
|
颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 2023.12.27-3505 |
|
颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 2023.12.27-3508 |
|
缺陷测试仪 |
KLA |
Viper 2401 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 2023.12.27-3509 |
|
颗粒测试仪 |
KLA |
Kevex 7600 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 2023.12.27-3507 |
|
缺陷测试仪 |
KLA |
SFS-7700 |
- |
6"备件机; |
国内
|
| 2022.3.20-1952 |
|
薄膜测量 |
KLA |
CS2 |
- |
- |
国内
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